资料摘要
资料下载布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）设计 创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性 高达 5Å。这项测量性能的提高，达到了过去四十年 Dektak 体系技术创新的顶峰，更加稳固了其行业中的领 先地位。不论应用于研发还是产品测量，在研究工作中 的广泛使用使得 DektakXT 的功能更强大，操作更简便易 行，检测过程和数据采集也更加完善。第十代 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，实现了纳米 尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器 件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料 科学领域。
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