F20-HC高级薄膜测厚仪

F20-HC高级薄膜测厚仪

参考价:面议
型号: F20-HC
产地: 美国
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产品详情

F20-HC经济型高级薄膜测厚仪
主要用于测试各种透明半透明的膜厚.

产品简介:
是在F20系统的基础上在软件中采用了仿真计算来测试单层或多层膜,波长范围是400~1000nm;
薄膜厚度的测量范围是:0.1~50um;
精度好于0.4%。

应用领域:
硬化膜、曲面薄膜、宽带增透膜(AR-Coating)

北京锐峰先科技术有限公司为您提供F20-HC高级薄膜测厚仪,nullF20-HC产地为美国,属于其它测厚仪,除了F20-HC高级薄膜测厚仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其它测厚仪,锐峰先科客服电话,售前、售后均可联系。

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