Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪

Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪

参考价:面议
型号: WT-2000
产地: 其他国家
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Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪
WT-2000 Multifunction Wafer Mapping Systems


WT-2000 提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激发光,适合Si,SiC, GaAs, CdZnTe, InGaAs 等各种材料电学参数测试。


测试选项:

u-PCD 技术做少子寿命扫描测试

表面光电压(SPV)做扩散长度面扫描测试

光诱导电流(LBIC)测试材料缺陷分布

测试特定金属杂质和沾污:Fe

涡流法测试电阻率

4探针测试电阻率


北京锐峰先科技术有限公司为您提供Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪,nullWT-2000产地为其他国家,属于其它测厚仪,除了Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其它测厚仪,锐峰先科客服电话,售前、售后均可联系。

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