| 型号： | TF map 2525 |
| 产地： | 德国 |
| 品牌： | |
| 评分： |
|
EddyCus TF map 2525 薄膜电阻和薄膜厚度测试仪 方阻测试仪 薄膜电阻测试仪
TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻（方块电阻）及薄膜厚度测量的仪器。
特点
非接触成像
高解析度成像（25 至1,000,000 点）
缺陷成像
封装层的地图
参数
薄膜电阻（欧姆/平方）
金属层厚度（nm、μm）
金属基板厚度（nm、μm）
各向异性
缺陷
完整性评定
应用
建筑玻璃（LowE）
触摸屏和平板显示器
OLED和LED应用
智能玻璃的应用
透明防静电铝箔
光伏
半导体
除冰和加热应用
电池和燃料电池
包装材料
材料
金属薄膜和栅格
导电氧化物
纳米线膜
石墨烯、CNT（碳纳米管）、石墨
打印薄膜
导电聚合物（PEDOT:PSS）
其他导电薄膜及材料
规格参数
测量技术：非接触式涡流传感器
基板：例如：薄膜、玻璃、晶圆，等等
最大扫描面积：10 inch / 254 x 254 mm（根据要求可以更大）
边缘效应修正/排除：对于标准尺寸，排除2 mm的边缘
最大样品厚度/传感器间隙：2 / 5 / 10 / 25 mm（由最厚的样本确定）
薄膜电阻的范围：
低 0.0001 - 10 Ohm / sq; 2 至 8 % 精度
标准 1 - 1,000 Ohm / sq; 2 至 8 % 精度
高 10 - 10,000 Ohm / sq; 4 至 8 % 精度
金属膜的厚度测量（例如：铝、铜）：2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)
扫描间距：1 / 2 / 5 / 10 mm （根据要求的其它尺寸）
每单位时间内测量点（二次形）：
5分钟内10,000个测量点
30分钟内1,000,000 个测量点
扫描时间：
4 inch / 100 x 100 mm，在0.5至5分钟内（1-10mm 间距）
8 inch / 200 x 200 mm，在1.5至15分钟内（1-10mm 间距）
装置尺寸（宽/厚/深）：549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch
重量： 27 kg
可用特色：
薄膜电阻成像
各向异性电阻传感器
相关产品
DAGE STELLAR 4000 焊接强度测试仪
AMAC 21 手动元件组装系统
Amadyne Fab1 自动装配贴片机
HB70 Die Bonder
TPT HB100 Wire Bonder
Dage XD7500VR Jade FP X光检查机
DAGE XD7800NT Ruby XL X光检查机
DAGE Quadra 3 X光检查机
DAGE 4800 焊接强度测试仪
Dage4000推拉力剪切力测试系统
RKD RA-880激光开封机
RKD ELITE ETCH自动双酸开封机
RKD 酸开封机
DAGE Quadra 5 X光检查机
DAGE Quadra 系列X光检查机
工商信息
信息已认证
关注
拨打电话
留言咨询
