自动Χ光沉降粒度分析仪 SediGraph III 5120

产品简介

新一代的粒度分析仪将成熟的SediGraph分析技术与先进的检测仪器功能相结合，提供卓越的重复性、准确性和重现性。 SediGraph III通过X射线吸收测量样品质量，利用国际标准的沉降法测量粒度，无需建模。该产品的技术已成为全球造纸、陶瓷、磨料等数个行业的金色标准。

技术特点

· 检测范围：0.1 到300 μm

· 全颗粒度测试，无需建模

· 选配的MasterTech 052自动进样器提供多至18个样品的自动进样，无需人为介入

产品应用

适合于各种无机材料颗粒大小的分析研究尤其是非金属矿物，例如：高岭土、重钙、轻钙、粘土、泥浆等材料的分析，是高岭土，重钙，轻钙粒径的标准分析仪器。