型号: | CPX |
产地: | 瑞士 |
品牌: | CSM |
评分: |
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瑞士CSM 纳米压痕测试仪(NHT2)
完全符合 ISO 与 ASTM 国际标准
仪器简介:
CSM NHT2 (NHT第二代)纳米压痕测试仪采用了UNHT(CSM超纳米压痕仪)的先进技术,其灵敏度及噪音水平和稳定性得以显著提高。采用先进的top reference(表面参比测试技术)设计, NHT2 纳米压痕仪将热漂移效应(thermal drift)降低到了0.02nm/s的水平。客户不需要软件模拟近似扣除即可获得可靠、稳定的数据,也不需要长期甚至隔夜的稳定时间,对实验室的环境要求大为降低。
仪器应用:
NHT2 纳米压痕仪主要用于测量纳米尺度的硬度与弹性模量,可以用于研究或测试薄膜等纳米材料的接触刚度、蠕变、弹性功、塑性功、断裂韧性、应力-应变曲线、疲劳、存储模量及损耗模量等特性。可适用于有机或无机、软质或硬质材料的检测分析,包括PVD、CVD、PECVD薄膜,感光薄膜,彩绘釉漆,光学薄膜,微电子镀膜,保护性薄膜,装饰性薄膜等等。基体可以为软质或硬质材料,包括金属、合金、半导体、玻璃、矿物和有机材料等。
主要特点:
独特的参比环设计-实时消除大部分热漂移
带有反馈系统的载荷加载系统
灵活的试样夹具可夹持各种尺寸试样(无需用胶粘结试样)
高质量金相显微镜观测系统
计算机软件包,自动进行数据获取、储存、分析等
丰富、灵活的扩展空间
技术参数:
载荷范围:0-500mN
载荷分辨率:40nN
最大压入深度:200um
位移分辨率: 0.004nm
选件:
其它力学测试模块(如微纳米划痕、超纳米压痕等)
真空及环境(温度、湿度)控制
原子力显微镜成像系统
环境隔离罩
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