烘干法水份测定仪/卤素水份仪配件 型号HAD-LHS16-A

1.烘干法水份测定仪/卤素水份仪 型号HAD-LHS16-A

    HAD-LHS16-A烘干法水份测定仪又称卤素水份仪，是集电磁力平衡的电子天平技术、卤素辐射技术和温控技术为一体的新产品。它体积小巧，功能完善，使用方便，坚固耐用。在单片微机的控制下，有称量校准，温度、时间设定，手动、自动加热选择，显示参数可调，加热结束蜂鸣器提示等多种功能，而且配上RS232串口打印机或电脑，可输出8种参数，还有四种输出模式选定。该仪器工作快速，一般几分钟可完成测试。因此，该水份仪能应用于医药、食品、烟草、粮食、化工等行业的实验室和日常进货及过程控制

型号 HAD-LHS16-A

读数精度 0.001g

称量范围 0-100g

温度范围 室温-160℃

温控调节精度 ±1℃

水份含量测定可读性0.01﹪

水份含量测定重复性0.2﹪ [样品≥2g]

时控范围0-120min

分析方法手动，自动

控制方式程序控制

显示参数8种

秤盘直径Ф90mm

外型尺寸325mm×195mm×195mm

电源 220V(50Hz)或110V±11V(60Hz)

2.双电测数字式四探针测试仪/双电测四探针检测仪 型号:HAD-2263

概述

HAD-2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。

主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成，也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-A或HAD-B或HAD-C或HAD-F型测试台。

详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

三、基本技术参数

3.1  测量范围

电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm

方  阻：5×10-4～1×106 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

电  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω

3.2  材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)

直    径：HAD-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，

四探针探头（选配其一或加配全部）

(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调

(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调

3.6 电源

输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<20W

3.7 外形尺寸：

主机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）

3.重金属检测仪/重金属测试仪仪 型号：HAD-ZJS

一、检测原理

 HAD-ZJS型重金属速测仪的基本原理是溶液可与特定的显色剂反应，生成有色物质使溶液呈现出颜色，溶液颜色的深浅与浓度呈正相关，并服从朗伯——比尔定律。即：E = K×C×L，式中E：消光度，K：消光系数，C：溶液浓度，L：溶液厚度。由上式得  C = E/ KL , 设待测液浓度为C2，则当K，L相同时C= E2/E1*C1式中E2/E1可由仪器内部测知C1为标准溶液浓度，当输入C1数据后，仪器可自动计算并显示出C2值。

 二、技术指标

(一)检测项目

1.重金属：铅、砷、铬、镉。

2.蔬菜：硝酸盐、亚硝酸盐。

(二)主要技术指标

1、模式1测量范围：0-100%

2、模式2测量范围：0-1.999

3、模式3直读范围：0-1999

4、模式1线性精度±0.5%

5、模式2精度±0.005

6、模式1重现性：0.5%

7、噪声：0.5%

8、电源：220伏±5%

9、抗震：合格

(三)外形尺寸

600×360×300mm3

4.油防腐涂料电阻率测定仪标准GB/T 16906涂料电阻率测定仪 型号:HAD-YFT-2014

HAD-YFT型耐油防腐涂料电阻率测定仪标准GB/T 16906-1997“石油罐导静电涂料电阻率测定法”而专门设计制造的规范仪表。现为了配合执行2008年国家标准GB50393-2008“钢质石油储罐防腐蚀工程技术规范”的需要，把2006年定型的HAD-YFT-2006型耐油防腐涂料电阻率测定仪最高量限从12次方欧姆升级提高到13次方欧姆，2014年增加本新品种：HAD-YFT-2014型。

本仪表它采用我国国家级鉴定的G88型数字兆欧表主机经过改造升级，配上符合GB/T 16906-1997技术规范要求的表面电阻率电极组成。用于规范我国石油管道、石油罐体表面耐油防腐涂层的电阻率测定。它也适用于其它行业各种导静电产品、材料、油漆涂层的电阻率测量。本仪表测试电源开路电压为500V，短路电流0.5mA，YFT-2006型电阻率量限1×104Ω~2×1012Ω；而YFT-2014型电阻率量限1×105Ω~2×1013Ω。

本仪表由我国‘石油罐导静电涂料检测规范国家标准管理组’提出与监制，由我国静电仪表研制专家设计与直接制造。

主机外形尺寸:130×70×24mm。电极盒外形尺寸：130×80×32mm

5.定氮仪蒸馏器/蒸馏器 型号：HAD/KDN-BI采用ABS防腐蚀材料

主要工作部位采用ABS防腐蚀材料，增加了仪器的寿命，降低了用户维护的成本。自动控制蒸汽发生炉的加热，有，双重水位控制装置，防止干烧的出现。智能加热设计，可连续蒸馏，提升工作效率。

测定范围：0.1~200mg氮，（0.05%~95%）

工作电压：220V，50Hz~60Hz

重现性：1%相对误差（包括消化步骤）

外形尺寸：380*330*750

回收率：99.5%~100%（1~200mg）

重量：25kg 功率：1200W

性能特点：

实验部分采用ABS防腐蚀面板

可适用任何水质

蒸汽产生自动化

智能加热，可连续蒸馏无需预热，提升工作效率

（可根据需要搭配消化炉）

6.片剂硬度测试仪/片剂压碎硬度计 型号:HAD-YD3标准：JB/T20104-2007

片剂硬度测试仪是用于测量片剂的压碎硬度。

适用标准：JB/T20104-2007

技术指标:

△  硬度测试范围：2-200N  0.2KG-20KG   可定制到50 KG(500N)

△  分辨率：0.1N  0.01Kg

△  硬度测量精度：量程±0.5%

△  片剂测试直径：2-40mm

△  重复测量误差：±1%

△  每组测试片数：≤100片

△  度量单位: 牛顿 N

                      公斤力  Kgf  (1Kgf=9.81N)

△  接口：标准串行打印接口，自带微打。

△  外形尺寸：长*宽*高  500mm*400mm*160mm

片剂硬度测量仪主要特点:

①  高精度压力传感器，保证测试的精度和重现性。

②  显示选用高清晰度液晶显示屏，显示内容丰富，用户可根据屏幕提示享受智能化操作，每一个操作过程均给出汉字提示和量化指标。

③  测量方式可选: 手动单片/自动连续 。

④  系统可实现自动压片、自动显示、自动锁存、自动复位、自动循环测试、自动线性误差修正、自动故障诊断。

⑤  极强的数据处理能力，可对试验结果进行统计、分析、打印、显示。可为您提交测试样本的最大值、最小值、标准偏差和变化范围的报告。

⑥  自动计算退片行程，压缩您的测试占空时间。

⑦  度量单位一键转换（牛顿-公斤）。

⑧  新型前换纸微型打印机。

7.活性炭粒度测定仪/活性炭粒度测试仪/活性碳粒度检测仪  型号HAD-LD3

主要部件及主要参数:

测颗粒粒度测定仪的主要部件及参数

l         转速：150±2r/min

转轴偏心距：20 ±1mm

2.定时器

3.电压：220V    功率：0.5KW

8.手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号HAD-3运用四探针

概述

HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.HAD 标准。

仪器成套组成：由HAD-3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。

仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

三、基本技术参数

1. 测量范围、分辨率

电    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω

电 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD

方块电阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□

2. 可测材料尺寸

手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：

直    径：HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130HADHAD。

HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。

长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.

测量方位: 轴向、径向均可.

9.多功能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C符合GB/T 1551

概述

HAD-2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。

仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。

主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，最大分类10类。

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台，也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

三、基本技术参数

1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）

电    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω

         （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）

电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm

         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）

方块电阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□

         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）

2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

直    径： HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限

HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.

长(高)度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.

10.弯脚规/弯角规/标准：GB5704.3人体测量用弯脚规 型号:HAD-WJ

弯脚规      

      由左弯脚、右弯脚、主尺和尺框构成。可用于测量活体和骨骼。

      弯脚规的主尺范围是0~300毫米，可测量活体的头长，宽，面宽，下颌骨间宽；骨骼的颅宽最大长，宽；面宽，体骨的肩胛骨形态宽等

标准：GB5704.3-85

以上参数资料与图片相对应