型号: | XDV-u |
产地: | 德国 |
品牌: | 菲希尔 |
评分: |
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功能特点:
◆优化的微区分析测试仪器
◆根据X射线光学系统,可以对100 μm或更小的结构进行分析
◆极高的能量强度,从而实现出色的精度
◆即使对于薄镀层,测量的不确定度也有可能做到 < 1 nm
◆只适用于平面的或是接近平面的样品
◆底部C型开槽的大容量测量舱
◆通过快速、可编程的 XY 工作台进行自动测量
典型应用领域:
◆测量印刷线路板、引线框架和芯片上的镀层系统
◆测量细小部件和细电线上的镀层系统
◆分析微小结构和微小部件的材料成分
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