SAM-DENEB型扫描超声显微镜

SAM-DENEB型扫描超声显微镜

参考价:面议
型号: SAM-DENEB
产地: 韩国
品牌: Acoulab
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核心参数
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产品详情

n主要用途:

  测试被测半导体或者材料领域产品的内部缺陷,如空洞、分层、裂缝、异物等;

n优势简介

  - 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构

  - 可分层扫描、多层扫描

   - 噪声低,成像质量高

  - 缺陷的测量及缺陷面积和数量统计

  - 可显示材料内部的三维图像

  - 对人体是没有伤害的

  - 可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等)

n产品特色

SAM-DENEB是一款高性能声学显微镜,可以对塑封集成电路ICIGBT大功率模组,各型电容、以及铜基板器件进行无损检测,分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机,扫描速度快,同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式,如点扫描(A-)、纵剖扫描(B-)、横剖扫描(C-)、多层横剖扫描(X-)等。

n主要参数

  - 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz

  - A/D 换能器:2GHz 取样频率, 1GHz带宽

  - 扫描台XY方向扫描范围:350mm*350mm

  - XY方向扫描速度:1000mm/s

  - XY方向扫描分辨率:0.5μm

  - XY方向重复定位精度:±0.5μm

  - Z方向扫描范围:70mm

  - Z方向扫描分辨率:2.5μm

n产品应用

  半导体方向 : Flip Chip, BGA, QFT, TBGA, FBGA, SOP, FET, MLCC, PCB

  材料方向 : ITO Target, Wafer, Pipe, Plate, Bar, complex Material, Piston test, Flaw detection in Planting, Car Engine, Weld zone 

微纳(香港)科技有限公司为您提供AcoulabSAM-DENEB型扫描超声显微镜,AcoulabSAM-DENEB产地为韩国,属于进口常规超声探伤仪,除了SAM-DENEB型扫描超声显微镜的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多常规超声探伤仪,MNT客服电话400-860-5168转3282,售前、售后均可联系。

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