第二届清华大学深圳研究生院表面分析技术应用研讨会暨培训班于2018年3月22至23日在清华研究生院的报告厅成功举办。此次培训班由清华大学深圳研究生院主办，ULVAC-PHI与PHI （China）高德英特公司共同协办。来自清华大学研究生院的师生及国内各高校相关专业的老师与专家共计200余名业界人士参加了此次培训。
此次培训班跟第一屆一樣，也是以“研讨会+培训课”的模式进行。在研讨会上，ULVAC-PHI原厂科学家张熏匀博士、漆原宣昭教授和台湾中央研究院薛景中教授作为特邀嘉宾，为参会人员介绍了表面分析最新技术和应用，使得参会者更深刻地了解到表面分析工具可提供讯息之多、可应用领域之广；培训课程的特邀嘉宾则是来自PHI（China）的执行总监叶上远先生，他为参会者带来的分享是MSMS Tof （Tandem MS）串联质谱在 Tof-SIMS 表面分析技术的突破和广大应用等内容。此外，张熏匀博士和叶上远先生还在整个培训期间提供了全程技术咨询，两位专家就与会人员关注的光电子能谱新研究方向、性能以及相关技术应用问题，为参会的各位师生、专家进行了逐一解答。
高德中国区总监叶上远正在作专业的报告
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