广东省分析测试协会表面分析专业委员会2018年度年会暨表面分析技术交流会

爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司

2019/07/11 11:05

PHI-CHINA向广东省分析测试协会表面分析专业委员会2018年度年会暨表面分析技术交流会在广东高明成功举办表示热烈祝贺。本次会议于2018年11月2~3日由广东省表面分析专业委员会，中国科学院广州能源研究所分析测试中心承办。

会议上，来自各高校科研所的教授、老师们分别介绍了他们在太阳能电池、钙钛矿或OLED相关应用方面的最新研究成果。PHI-CHINA公司的执行总监叶上远先生就《PHI 5000 VersaProbe III – 原位XPS-UPS-IPES-GCIB分析设备》为题详细介绍了该设备：该设备能够提供从芯能级到费米能级的所有信息，包括价带（HOMO）和导带（LUMO），因此能够直接给出带隙信息，而无需任何间接假设。此外，原位的团簇氩离子枪（GCIB）的深度溅射扩展了其对多层XPS-UPS-IPES分析的可能性。