开课啦!PHI CHINA 表面分析技术网络讲堂之飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）专题

PHI CHINA表面分析技术网络讲座已经成功开办了三期，感谢广大客户及师生一直以来的关注及支持。为了将更多更好的技术分享给大家，本周将开展“飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）”专题讲座。

       飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer 简称ToF-SIMS），使用初级脉冲离子入射固体材料表面，通过探测表面激发出的二次离子的飞行时间分辨其质量，以表征材料表面的元素成分、分子结构、分子键接等信息。

01 3月19日15:00

PHI CHINA资深应用专家鲁德凤

TOF-SIMS基本原理、主要功能和应用

1、SIMS的基本原理（包括D-SIMS和TOF-SIMS）；

2、TOF-SIMS的主要功能；

3、TOF-SIMS在材料分析中的主要应用。

02 3月20日15:00

PHI CHINA主任工程师辛国强

TOF-SIMS硬件简介、仪器功能及特性

1、TOF-SIMS仪器结构及其功能；

2、TRFIT能量分析器原理；

3、LMIG离子枪原理；

4、深度剖析离子枪；

5、PHI NanoTOF II特性。

03 时间待定

ULVAC-PHI原厂应用科学家张熏匀

TOF-SIMS的样品制备、测试和分析过程演示以及数据分析

1、不同样品不同测试需求的样品制备；

2、样品测试和分析过程的演示；

3、如何使用软件进行数据分析（图谱解析、MAPPING、深度剖析曲线&3D成像等）。

       本次为期三天的讲座将以网络直播结合现场答疑的方式进行，由PHI CHINA资深专家及ULVAC-PHI原厂应用科学家共同为您解析TOF-SIMS系列别样的精彩。疫情尚未结束，学习不能止步。欢迎扫描下方公众号二维码，回复网络讲堂进行报名。请继续关注我们，更多的干货和技术分享，敬请期待。