会议邀请| PHI CHINA邀您参加BCEIA2021

“第十九届北京分析测试学术报告会暨展览会-高校分析测试论坛”将于2021年9月27-29日在北京·中国国际展览中心开展。

本次论坛涉及光电子能谱、扫描探针显微镜、二次离子质谱、冷冻电镜、电镜原位技术等学术方面,PHI CHINA作为一直致力于表面分析科学服务的专家,将参与本次会议并进行大会报告。

以下是PHI CHINA的报告日程,欢迎各位专家、老师们前往现场进行交流讨论!


01.

会议地址

北京·中国国际展览中心(天竺新馆,展览区 E4-6)

02.

PHI CHINA报告时间

9月28日 14:00-14:20

03.

报告人

PHI CHINA应用专家 鞠焕鑫 博士

04.

报告主题

表面分析技术在能源材料研究中的应用

图片

PHI VersaProbe 4



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