X射线光电子能谱仪是一种有效的表面分析技术,已经广泛应用于基础科研、先进材料研究、高精尖技术等领域。XPS作为表面分析领域重要的大型科学仪器,已经成为材料分析中离不开的利器。
PHI XPS自推出以来,VersaProbe系列已成为全球最受欢迎的 XPS 分析仪。目前PHI已更新到第四代XPS,"PHI VersaProbe 4"。
PHI VersaProbe 4 采用新设计分析器,可实现从微小到大面积的高灵敏度分析。独特的微聚焦扫描X射线和SXI影像,通过类似SEM的SXI影像可以作为样品导航,实现100%精准地定义微区分析位置。
KEY TECHNOLOGIES
全新设计的高灵敏度和低噪音能量分析器
使用微区XPS分析技术进行准确的深度剖析
无需参数调整即可满足任何绝缘样品微区分析的荷电中和需求
远程访问实现对仪器的远程控制
多样化的配置,可以充分拓展XPS的潜力
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新闻报道I《焦点访谈》20221206 科技成果 落地生“金”—PHI表面分析技术助力科技成果转化
PHI XPS 用户赏析I东京大学
用户成果赏析I Science:钙钛矿太阳能电池稳定性研究
ULVAC-PHI中国子公司成立仪式暨2023全国表面分析新技术与应用研讨会成功举办
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