方案摘要
方案下载应用领域 | 石油/化工 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | |
参考标准 | smartsoft操作手册 |
高德英特携ULVAC-PHI部分中国用户成功举办了第一次网络研讨会。此次研讨会主要讨论如何在XPS分析中,充分利用PHI在X-Ray独特的聚焦扫描设计,有效行使从大面积分析到微区分析功能,并演示了如何利用仪器的自动化设计,完成自动队列分析。可实现大量样品高效并且高质量的完成XPS分析。
异形器件的失效分析测试方案之原位XPS+AES
FIB-TOF ‖ 全固态电池截面的原位FIB加工和分析
浅谈光学带隙和电学带隙差异
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询