| 型号： | ARL QUANT‘X |
| 产地： | 瑞士 |
| 品牌： | 赛默飞 |
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品牌： 赛默飞 型号：QUANT'X
制造商：赛默飞世尔科技 经销商：朗铎科技
产品简介
X射线荧光光谱分析法，是一种快速，无损的材料分析方法。广泛应用与各类材料化学元素的定性，定量分析；涂层及镀层厚度的无损分析等。
赛默飞世尔ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪(EDXRF)是为实验室和工厂制造环境下，满足不同类型材料分析设计的，其强大和灵活性对于许多元素分析应用是不可缺少的。
ARL QUANT’X 荧光能谱仪配置有顶级的仪器硬件, 还有先进的分析软件。基于几百种成功应用分析实例和几十年的实践经验, 为现场应用方法开发和技术支持提供了强大的支撑。
技术优势
1. 高稳定性，高精度，长寿命50W 端窗高效发射X-光管技术。
2. 高灵敏度，高效采集SDD晶体电制冷探测器技术，这是Thermo 独家的专利技术。使用成熟的半导体差温制冷技术。
3. 全数字脉冲处理器技术这是当前国际上能谱仪最先进的信号处理技术。
4. 多条件优化采集不同元素：用户可根据元素的数量和原子序数情况，进行多条件设置，以选择不同的滤光片，电压，电流，优化各段元素的采谱条件。
5. Thermo QUANT’X提供的不仅有顶级的仪器硬件, 还有先进的分析软件。
定性分析：快速一键自动完成各种元素的鉴别
定量分析：不仅有使用标样的高精度的强度曲线方法。
6. QUANT’X提供一个超大样品室, 和多种自动进样器选购件。
7. 操作，维护简便，功能键一键完成所需的应用。
技术参数
元素分析范围：F-U
X射线光管
靶材：Rh靶材，端窗透射靶
功率: 50W
管压：50KV（max）
管流：2 mA(max)
冷却方式：风冷
X射线探测器
类型： Si (Li)
制冷方式： Peltier 电制冷或液氮制冷
分辨率：< 155eV
滤光片
7个滤光片，8位自动选择
准直器
1.0～8.8mm用户自选
样品室
尺寸： 30cm X 40cm x 6cm
加高附件： 加高20cm, 36cm (选购)
腔室气氛： 空气、真空、充氦（选购）
自动进样器： 20位, 10位（自旋）（选购）
软件系统
操作系统： Windows XP
能谱仪分析软件： Wintrac
元素范围： F-U 没有元素限制
谱显示：自动峰定性, KLM 标记, 分析条件状态
谱处理：谱重叠比较, 硬件控制，总强度, 净强度, 拟合, 导数, 背底经，数字滤波
分析技术：线性, 二次方程, 比例, 强度, 浓度校正基本参数法, 镀层厚度
高级定量分析：用于多基本无标样分析的UniQuantFP, 可对样品性质校正, 漂移校正,在工厂预作校正。
重量和尺寸
重量： 91Kg
尺寸： 724mm (w) x 597 mm (d) x427 mm (h)
应用领域
气溶胶颗粒滤膜
材料分析, 研究和刑侦
RoHS / WEEE 筛选
食品和消费者安全
油料和润滑油
金属, 合金, 炼渣和矿石
水泥, 燃料, 陶瓷
半导体和磁性介质薄膜或镀层厚度测量
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