环竞推出最新电子元器件老化测试系统

2014-09-12 09:37  下载量:0

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环竞推出最新电子元器件老化测试系统  近日,上海环竞推出了电子元器件老化测试系统,该系统主要用于对探井设备 电路板中多种电子元器件的入厂筛选与检验,其中包括对电阻、电容、电感等常 用元器件的检测。 作为专业的电子元器件老化测试系统,其可在室温至180度的任意温度点下,对电 子元器件进行功能、电气指标的自动化测试,温度测量精度可达0.1℃。该测试系统 由老化板、老化插座、负载板及泛华恒兴自主研发的信号路由矩阵组成,模块化设 计保证了系统具有强大的扩展性。系统采用大腔体设计,可接受最多16块不同的老 化板同时进行测试。老化板适配夹具耐温可达270℃,接口可基于元器件任意定制。 同时,该系统还可以任意设置老化温度点、老化时间与循环测试时间间隔,以满足 不同的测试需求。   电子元器件老化测试系统拥有丰富仪器和软件算法功能,并可对8类不同被测 件如:电阻(1Ω~10MΩ)、电容(1PF~1F)、电感(10nH~100H)、稳压器、二极管以及 变压器等多种元器件的测试和评判,测试内容包括LCR、电容耐压、三端稳压器纹 波、信号变压器带宽等项目。   该系统专注于在线环境仿真与性能检测,除装卸件采用手动完成外,测试过程均 由系统自动完成,操作简单,在节约生产时间的同时,降低了设备的总体投入成本。 此外,还具有强大的数据存储、曲线分析与报表生成功能,可得出元器件在老化过程 中的特性变化,并对产品缺陷溯源,使操作管理更加人性便捷。

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