资料摘要
资料下载德国PhysTech FT1030高能分辨率深能级瞬态谱仪 PhysTech在1990年推出了第一台数字DLTS，随着电脑技术的发展，使得在短时间内进行复杂计算成为可能。在纯指数发射过程模型的基础上，用各种数学模型分析测量到的瞬态过程，如傅里叶转换、拉普拉斯转换、多指数瞬态拟合、ITS（等温瞬态光谱）信号重叠法、温度扫描信号重叠法（重折叠）。与其他系统相比，HERA-DLTS具有无法比拟的能量分辨率。 半导体的掺杂浓度、缺陷能级位、界面态(俘获界面)是研究半导体性质的重要手段。此设备根据半导体P-N 结、金－半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C～t）技术和深能级瞬态谱（DLTS）的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具有很高检测灵敏度的实验方法，能检测半导体中微量杂质、缺陷的深能级及界面态。通过对样品的温度扫描，可以给出表征半导体禁带范围内的杂质、缺陷深能级及界面态随温度（即能量）分布的DLTS 谱。
文献贡献者
On- line Visualization of Asymmetric Multi-phase Flow in an Industrial Flow Loop Using Electrical Tomographic Techniques
简介：On- line Visualization of Asymmetric Multi-phase Flow in an Industrial Flow Loop Using Electrical Tomographic Techniques
CD4+,CD25+ Treg FAB Streptamer 分选试剂盒
简介：用微球盒永磁体进行细胞分选，分选后细胞高纯度无损伤，从1*10E9细胞中，通过CD4和CD25双标记连续正选Treg细胞亚群。整个过程无需反选，且分选后标记试剂可以与细胞完全分离，完全保留目的细胞的抑制活性。
ITS P2+ 电阻层析成像仪器
简介：P2+ 是一款高精度电阻层析成像仪 由 ITS 基于过程层析成像技术设计和开发，面向全球客户供货（在 NASA 安装用于海底运行，客户遍布各大洲），多年来通过汲取客户反馈实现了性能和功能改进。 P2+电阻层析成像仪器有两个可选择配置 ●全尺寸型，可操作多达 8 个测量平面（128 个电极）。 8 平面装置主要用来提供容器或者 反应塔的完整状况。 ●紧凑型，可操作 1 个或者 2 个测量平面（多达 32 个电极）。 紧凑型 p2+ 用于基于流动 和探头的应用场合。
ITS M3C 电容层析成像仪器
简介：英国ITS M3C 电容层析成像仪器样本。 由 ITS 基于过程层析成像技术设计和开发，面向全球每个主要大洲的客户供货，多年以来通过汲取客户反馈实现了性能和功能改进。 m3c 主功能是电容层析成像，也可以进行信号的实部和虚部测量。
加拿大Gentec激光功率计, 能量计, THz 探测器, 光斑分析仪
简介：加拿大Gentec-EO有着近四十年的激光功率计/能量计生产历史，是世界上第一个生产热电/热释电激光探头的公司，其产品因测量准确、高损伤阈值、易于使用而备受国内外众多知名激光工业及科研客户所青睐。此外，Gentec的特色产品包含功率反馈OEM探头、热量计（最高可测16 kJ能量 ，探测面积达427X427mm）、光斑分析仪/M2测量仪、衍射光学镜片（用于衰减激光功率,在光路中分出一小部分激光进行监测，而又不影响光路前进方向）
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