电子产品高温低温可靠性测试方法高低温环境试验箱

上海荣计达仪器科技有限公司

电子产品高温低温可靠性测试方法高低温环境试验箱：

试验条件：将电子产品放入高低温试验箱通电老化

高温参数设置：温度45℃、湿度80% RH、时间24 hrs

低温参数设置：低温0℃、时间24 hrs

试验方法：

试验一：高温运行

1、样品应在不包装、不同点和正常工作位置的状态下放入具有室温的试验箱内，

2、箱内温度逐渐升温至所设置的温度，当电子产品达到温度稳定后，接通电源持续工作16小时，

3、样品断开电源，箱内温度降低至正常试验大气条件范围内的常温常压下，

4、恢复两小时；

5、对试验产品进行全方面的检测。

试验二：低温运行

1、电子产品应在不包装、不同点和正常工作位置的状态下放入具有室温的试验箱内;，

2、高低温试验箱内温度逐渐降低至所设置的温度，当样品达到温变稳定后搁置2小时，然后接通电源持续工作1小时；

3、样品断开电源，试验箱内温度降低至正常试验大气条件范围内的常温常压下，

4、箱内温度上升至正常试验大气条件范围内的常温常压下，

5、恢复两小时；

6、对试验产品进行全方面的检测；判定标准：

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