方案摘要
方案下载| 应用领域 | 地矿 |
| 检测样本 | 金属矿产 |
| 检测项目 | 痕量元素 |
| 参考标准 | GB/T 34332-2017 菱镁矿和白云石耐火制品化学分析方法 |
安科慧生研制的单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC与快速基本参数法（Fast FP），同步分析菱镁矿各元素成分含量，对各个元素氧化物的分析精密度满足《GB/T 34332-2017 菱镁矿与白云石耐火制品化学分析方法》要求，同时具有样品制备简单、分析速度快、分析成本低等优势，也可延伸到镁砂各个元素成分分析。
菱镁矿与镁砂中元素含量测定-菱镁矿成分分析
单波长X射线荧光光谱仪与快速基本参数法
一、概述
菱镁矿是镁的硅酸盐矿物，是制造含镁耐火材料的最主要的天然矿物原料。全世界菱镁矿储量约为120亿吨，其中中国大约为50亿吨，占比十分庞大。
菱镁矿的化学成为为MgCO3，其它氧化物CaO、SiO2、Fe2O3、Al2O3等为杂质，当菱镁矿中杂值含量大时，会严重降低其耐火性能，并且会给生产工艺造成困难，因此分析杂质元素含量尤为重要。
安科慧生研制的单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC与快速基本参数法（Fast FP），同步分析菱镁矿各元素成分含量，对各个元素氧化物的分析精密度满足《GB/T 34332-2017 菱镁矿与白云石耐火制品化学分析方法》要求，同时具有样品制备简单、分析速度快、分析成本低等优势，也可延伸到镁砂各个元素成分分析。
单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC
二、测试步骤
样品采用压片法处理，具体流程见下图：
三、技术原理
1) 单波长聚焦激发技术
单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC将全聚焦型双曲面弯晶单色化技术与二次靶完美结合，全聚焦型双曲面弯晶将X射线光管出射谱中靶材特征射线单色化衍射并聚焦到样品一点，大幅降低X射线管出射谱中连续散射线背景对样品元素谱的干扰，提升元素检测信噪比，弥补了传统能量色散X射线荧光光谱仪对轻元素灵敏度不足，单波长X射线荧光光谱仪实现对微量和痕量元素的检测分析。（发明专利：201510970857.0）
2) 快速基本参数法
基本参数法(FP)是XRF定量分析的一项前沿技术，其解决了XRF基体效应、元素间吸收增强效应、谱线重叠干扰、探测器各种效应等对定量分析的复杂性和不确定性，实现欠缺标准样品情况下的样品元素定量分析。北京安科慧生研发的快速基本参数法（Fast FP2.0）不仅采用基本参数库，同时建立系列的数学模型，从而使得基本参数法提升到定量分析水平，在样品适应性、定量精度、扩展性等方面处于先进水平。
四、性能数据
1) 线性
快速基本参数法(Fast FP 2.0)通过全谱拟合和理论计算得到各元素（或氧化物）含量值，通过对菱镁矿标准样品的Fast FP计算值与标准含量值之间建立校正曲线。下述各目标元素（或氧化物）线性相关性图表，可见线性相关系数R²达到0.99~0.999之间，良好的线性关系是定量准确性的保证。
2) 重复性
使用菱镁矿28727-2014-magnesite3#号标准样品重复测试7次，得到重复性结果如下表：
元素 | SD(%) |
MgO | 0.036 |
CaO | 0.002 |
Fe2O3 | 0.001 |
SiO2 | 0.008 |
Al2O3 | 0.002 |
五、仪器特点
稳定
开机30分钟，即可得到稳定分析数据，连续测试、日间测试、长期测试均具有优良的重复性；
精确
基于基本参数法的软件谱图分析计算，消除样品基体差异、谱线干扰带来的分析误差，仅需少数标准（定值）样品，即可得到准确定量结果；
低耗
无需消耗气体、液氮制冷、真空等，长期运行低故障率；
快速
3分钟即可完成单个样品分析；
同步
同步分析菱镁矿和镁砂中Na-Zn十几种元素及氧化物含量；
原创声明：本文除注明引用之外均属于安科慧生（Ancoren）公司原创，若有转发和引用，必须注明出处，否则可能涉及侵权行为！
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文献贡献者
NCM(Li)元素含量与混合均匀性
单波长XRF在锂电池SiO与PVDF材料分析中的应用
锂电池负极材料元素分析
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