型号: | OBR 4613 |
产地: | 加拿大 |
品牌: | 筱晓光子 |
评分: |
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一,OBR 6225/6235 背光反射计 1546.7nm (测试长度20-500m)
OBR 6200 系列是一款便携式、坚固耐用的超高分辨率反射仪,具有后向散射级灵敏度坚固耐用的电池供电集成系统,具有直观的触摸屏用户界面,非常适合现场维护应用。利用光学频域反射计(OFDR)技术,以亚毫米空间分辨率、高精度和高动态范围测量分布式回波损耗(RL)和插入损耗(IL)。
OBR 6225 针对航空航天、海军、运输和工业应用中的短光纤网络进行了优化,而 OBR 6235 则非常适合数据中心环境。OBR 6235将测量长度范围扩展到500米,是数据中心互连精密测试的理想选择,用于中短光纤链路和组件的精确测试。
完全便携且坚固耐用的OBR
跟踪并分析回波损耗(RL)和插入损耗(IL)与长度的关系
高精度测量长度和延迟
空间采样分辨率低至80μm
可提供IP65和MIL-STD认证
•现场光纤组件故障排除
•准确定位IL站点、高RL连接、光纤中断等。
•维护航空电子、航空航天、海军和工业网络
•验证数据中心互连的光纤长度
•光纤传感系统故障排除
型号对比
- | OBR6225 | OBR6235 |
通道数 | 1 或 2 | 1 |
---|---|---|
采样分辨率(2 点) | 0,080 毫米(@20 m 长) | 0.20毫米(@200 m 长) |
Max. 装置长度 | 100 m、200 m 可选。 | 500米 |
中心波长 | 1546.7nm | |
RL 动态范围 | 70dB |
OBR 6200系列以高分辨率绘制反射与长度的关系图,自动检测超过用户定义阈值的RL反射事件和IL位点
OBR 6225参数表
参数 | 规格 | ||||
测量 | |||||
光端口数量 | OBR 6225-1 | 1 port | |||
OBR 6225-2 | 2 ports | ||||
测量长度模式 | 20 m | 50 m | 100 m | 200 m1 | |
采样分辨率(两点)2 | 0.080 mm | 0.10 mm | 0.20 mm | 0.40 mm | |
延迟/延迟测量精度 | 5 ps | 10 ps | 20 ps | 40 ps | |
波长扫描范围 | 10 nm | 8 nm | 4 nm | 2 nm | |
中心波长 | 1546.7 nm | ||||
测量时间 | 10 s | ||||
回波损耗测量 | |||||
RL动态范围3 | 70 dB | ||||
总范围4 | 0 to -129 dB | ||||
灵敏度4 | -129 dB | ||||
分辨率 5 | ± 0.1 dB | ||||
精确5 | ± 0.5 dB | ||||
插入损耗测量 | |||||
IL动态范围,反射模式6 | 15 dB | ||||
分辨率7 | ± 0.1 dB | ||||
精确7 | ± 0.2 dB | ||||
General | |||||
光输出功率 | 4 mW | ||||
电池 | 3 h runtime; 2 h charge time | ||||
触摸屏显示器 | 10.1”, 1280 x 800 resolution | ||||
数据I/O端口 | USB-C, RJ45 Ethernet | ||||
光学连接器 | OBR 6225-1 | FC/APC (SC/APC or FC/APC adapter patch cord) | |||
OBR 6225-2 | Sealed duplex FC/APC (FC/APC adapter patch cord) | ||||
重量 | 10.1 lb (4.6 kg) | ||||
尺寸 | 13.4 x 8.7 x 2.8 in (34 x 22 x 7 cm) | ||||
环境 | |||||
军事认证(OBR 6225-2) | MIL-STD-810G | ||||
入口保护(OBR 6225-2) | IP65 | ||||
电磁兼容性(OBR 6225-2) | MIL-STD-461G | ||||
工作温度 | -20 to 35 °C (0 to 35 °C charging) | ||||
储存温度 | -20 to 60 °C | ||||
工作高度 | 0 to 2500 m (0 to 3000 m storage) | ||||
Certifications |
OBR 6225备注
1.具有加长选项
2.SMF-28中两个采样点之间的距离。
3.最强反射大于-60dB和本底噪声之间的范围。
4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。
5.以1cm的积分宽度测量。
6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。
7.分别以10 cm、12.5 cm、25 cm和50 cm的积分宽度对20 m、50 m、100 m和200 m模式进行测量。
OBR 6235参数表
参数 | 规格 | ||
测量 | |||
光端口数量 | 1 port | ||
测量长度模式 | 100 m | 200 m | 500 m |
采样分辨率(两点)1 | 0.20 mm | 0.40 mm | 1.0 mm |
飞行时间延迟精度2 | ± 0.1% | ||
波长扫描范围 | 4 nm | 2 nm | 0.8 nm |
中心波长 | 1546.7 nm | ||
测量时间 | 10 s | ||
回波损耗测量 | |||
RL动态范围3 | 70 dB | ||
总范围4 | 0 to -129 dB | ||
灵敏度4 | -129 dB | ||
分辨率5 | ± 0.1 dB | ||
精确5 | ± 0.5 dB | ||
插入损耗测量 | |||
IL动态范围,反射模式6 | 15 dB | ||
分辨率7 | ± 0.1 dB | ||
精确7 | ± 0.2 dB | ||
General | |||
光输出功率 | 4 mW | ||
电池运行时间 | 3 h | ||
电池充电时间 | 2 h | ||
触摸屏显示器 | 10.1”, 1280 x 800 resolution | ||
数据I/O端口 | USB-C, RJ45 Ethernet | ||
光学连接器 | FC/APC | ||
重量 | 10.1 lb (4.6 kg) | ||
箱子尺寸 | 13.4 x 8.7 x 2.8 in (34 x 22 x 7 cm) | ||
环境 | |||
工作温度 | -20 to 35 °C (0 to 35 °C charging) | ||
储存温度 | -20 to 60 °C | ||
Certifications |
OBR 6235备注
1.SMF-28中两个采样点之间的距离。
2.保证了维安内部NIST可追踪的HCN气体电池的准确性。
3.最强反射大于-60dB和本底噪声之间的范围。
4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。
5.以1cm的积分宽度测量。
6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。
7.分别在100米、200米和500米模式下,以25厘米、50厘米和125厘米的积分宽度进行测量。
二,光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪)
Luna OVA 5000是用于现代光网络设备的损耗、色散和偏振测量的快、准确、经济的工具。它是单连接、全参数表征光纤组件的理想设备,从耦合器到特种光纤,以及介于两者之间的一切(光纤布拉格光栅、阵列波导光栅、自由空间滤波器、可调谐器件、放大器等),所有这些只需要可调谐激光器的一次扫描.
Luna Innovations正在推出OVA 5100产品,包括用于C和L波段的OVA 5100型号,以及用于O波段操作的OVA 5113。OVA 5100是具有同等功能和性能的OVA 5000系统的直接替代品。除了提供更便携的外形外,OVA 5100还代表了Luna对质量的承诺,并持续提供光学矢量分析仪(OVA)的不一样功能。
光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪),光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪)•对长度不超过150 m的设备进行单次测量、全参数分析
•在不到3秒的时间内对无源器件进行quan面表征
•完全偏振响应
•单次扫描,同时测量完整的参数范围
--插入损耗(IL)
--偏振相关损耗
--偏振模色散(PMD)和二阶PMD
--色散(CD)
--组延迟(GD)
--光时域响应
--Jones矩阵元素
--光学相位响应
•高分辨率C和L波段(OVA 5000)或O波段(OVA 5013)能力
•实时测量
•用户友好界面
•分析平面光电路和硅光子器件
•表征光纤组件
•测量频谱响应和时延响应
•通过完整的传递函数改进设备模拟和模型
型号 | OVA 5100 OVA 5100 (C & L band) OVA 5113 (O band) | OVA 5000 OVA 5000 (C & L band) OVA 5013 (O band) |
图片 |
| |
机箱尺寸 | 36.6 x 34.5 x 16.5 cm(14.4 x 13.6 x 6.5 in) | 47 x 42 x 21 cm(18.6 x 16.5 x 8.1 in) |
重量 | 11.4 kg (25 lb) | 16.2 kg (35.8 lb) |
功能和规格 | 等效的功能、软件、性能规范和配置。 | |
产品状态 | 建议新购买 | 维护模式 |
OVA 5100–OVA 5000的新外壳和名称
Luna OVA 5100本质上是一款OVA 5000,封装尺寸较小,并进行了一些内部更新,以提高其可制造性和长期可支持性。
在功能上,OVA 5100/5113系统是OVA 5000/5013的替代品,具有同等的功能、规格、功能和软件。
OVA 5000/5013的所有选项均适用于OVA 5100/5113,零件号不变。重要可能影响系统与客户应用程序集成的变化将是系统的物理尺寸和重量的减少。
维护OVA 5000和OVA 5013
OVA 5000和OVA 5013型号已进入维护模式,这意味着Luna将继续全力支持和服务这些系统,并遵守产品保修。
通过1次扫描,OVA 5000可以同时测量光子器件和子系统的完整传递函数。此屏幕显示IL和组延迟与波长的关系。
参数 | 快速模式 1 | 平均模式 2 | 单位 |
OVA 5000 | 1525 - 1610 | nm | |
OVA 5013 | 1270 - 1340 | nm | |
波长: | |||
分辨率 | 1.6 | 1.6 | pm |
精度3 | ±1.5 | ±1.5 | pm |
重复精度 | ±0.1 | ±0.1 | pm |
光学相位误差: | |||
30 m mod | ±0.05 | ±0.0075 | radians |
损耗特性: | |||
动态范围 | 60 | 80 | dB |
纹波4 | ±0.05 | ±0.01 | dB |
分辨率 | ±0.05 | ±0.002 | dB |
插损精度 | ±0.1 | ±0.05 | dB |
回损精度 | ±0.2 | ±0.1 | dB |
色散: | |||
精度 | ±10 | ±5 | Ps/nm |
群延迟: | |||
量程(Range) 3 | 6 | 6 | ns |
精度 | ±0.2 | ±0.1 | ps |
损耗范围4 | 45 | 60 | dB |
PMD: | |||
量程5 | 6 | 6 | ns |
精度(一阶) | ±0.03 (100pm steps) ±0.15 (30pm steps) | ±0.08 | ps |
精度(二阶) | ±10 | ±2 | ps |
损耗范围4 | 40 | 50 | dB |
PDL: | |||
消光比 | 40 | 50 | dB |
精度 | ±0.05 | ±0.03 | dB |
测量速度: | |||
激光扫描速度 | 70 | 70 | nm/s |
全参数测量速度6 | 30 | 30 | ms/nm |
全规格扫描速度7 | 12 | 55 | s |
实时刷新率 | 1 | NA | Hz |
Max. 测试长度: | |||
透射 | 150 | 150 | meters |
反射 | 75 | 75 | meters |
物理: | |||
重量 | 16.24 11.4 (5100新款) | kg | |
操作功率 | 100 | W | |
1级激光器 | <10 | mW | |
规格(W*D*H) | 470 X 420 X 21 366 x 345 x 165 (5100新款) | mm |
1.快速模式:无平均校准扫描,4次平均测量扫描,30 pm分辨率带宽,8 m设备长度(使用NIST认证的人工制品验证精度,IL除外)。高动态范围选项已启用。
2.平均模式:4次平均校准扫描,64次平均测量扫描,30 pm分辨率带宽,8 m设备长度(使用NIST认证的人工制品验证精度,IL除外)。高动态范围选项已启用。
3.由NIST内部可追踪的HCN气室保持精度。
IL、GD和PMD在“平均模式”下的4.80、60和50 dB动态范围已安装并启用“高动态范围”选项。
5.指出可以捕获的总设备脉冲响应持续时间。
6.根据每次扫描的组合激光扫描和分析时间计算的速率。
7.在快速模式(Fast Mode):40 nm范围和平均模式(Average Mode):2.5 nm范围内进行全规格测量(见注释4)。不包括校准时间。
单次扫描中的完整特征
OVA 5000quan面分析集成光子器件和子系统的光学特性,提供quan面的表征
一次扫描和一次连接。OVA 5000使用干涉测量法直接测量线性传递函数(Jones矩阵),并同时测量其在每个波长下的四个复数元素。根据该数据,
所有标准线性参数测量,包括IL、RL、GD、CD、PMD和PDL,都可以以z高的动态范围和可用的精度进行提取。
其结果是实现了极其快速、高分辨率和精确的器件表征,是硅光子学和其他集成光子学器件的理想选择。
高分辨率“零死区”反射计
OVA 5000还可以作为具有光学频域反射计(OFDR)选项的高分辨率反射计进行操作。具有OFDR选项的OVA 5000可提供20μm采样分辨率、“零死区”和高灵敏度(>95 dB)的反射计测量。使用此选项,您可以轻松
“向内看”微型光子器件,并在波导内通常发生的规模上区分反射事件和杂质。
完全偏振分析
通过可选的偏振分析软件插件,OVA 5000可以测量、计算和显示光学组件对模拟输入偏振态的响应,从而消除了偏振对准的繁琐和困难任务。该软件显示插入损耗、群延迟和对用户定义的输入极化状态的脉冲响应。易于使用的滑块允许用户将模拟输入偏振调整到任何所需状态。anlaysis软件还绘制了偏振主态(PSP)的Min. 和Max. 插入损耗、群延迟和色散,以及偏振平均量(IL、GD、CD等),
PMD、PDL、Jones矩阵元素和时域信息。
使用单一仪器进行quan面表征
OVA 5000是业界重要一款通过单次连接和单次高速测量扫描测量光学组件完整光谱和时间延迟响应的仪器。OVA 5000简化了测试设置,缩短了测试时间
通过将多个光学仪器和组件的功能集成到单个仪器中。
用单个OVA 5000替换所有这些仪器。
型号说明
型号 | Description | Includes |
OVA 5000 | 光学矢量分析仪,1525 nm-1610 nm | 用于C和L波段的OVA 5000主机、OVA软件、仪器控制器(工作站级笔记本电脑或台式电脑)和配件套件。 |
OVA 5013 | 光学矢量分析仪,1270 nm-1340 nm | 用于O波段的OVA 5000主机、OVA软件、仪器控制器(工作站级笔记本电脑或台式电脑)和配件套件。 |
OPT02003 | 桌面分析软件 | 提供OVA 5000所有分析和数据可视化的软件,仅使用保存的OVA测量数据文件。 |
OPT02004 | OFDR选项 | 用于执行高分辨率反射测量的光学频域反射计(OFDR)软件。 |
OPT02005 | 极化分析软件 | 分析对模拟输入极化状态的响应。 |
OPT02006 | 扩展的动态范围 | 启用增强的动态范围(请参阅性能表)。 |
OPT02007 | 自定义软件开发工具包 | 带有允许自定义GUI开发的DLL的SDK工具包。 |
三,OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室)
光学后向散射反射仪(Optical Backscatter Reflectometer) Luna OBR 4600是Luna屡获殊荣的光学后向反射仪TM产品线的一部分。OBR 4600专为组件和短期网络测试和故障排除而设计,可实现具有反向散射水平灵敏度的超高分辨率反射计。OBR 4600具有低至10微米的采样分辨率、零死区、极低的噪声基底,以及扩展范围和分布式温度和应变传感的选项,提供了行业优秀的反射计技术,使您能够所未有地“看到”您的组件和系统内部。
OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室),OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室)•“Zero Dead Zone零死区”反射计
•以10μm采样分辨率测量30 m
•80 dB动态范围
•后向散射级灵敏度(-130 dB)
•高速扫描(1 m段,z高3 Hz)
•增程提供2公里无死区的续航里程
•测量IL、RL、分布损耗、距离、极化状态、相位导数和群延迟
•高分辨率C和L波段(OBR 4600)或O波段(OBR-4613)能力
方便地定位及诊断光纤的弯折、熔接、连接头及断裂等各类故障
定位各点的插损,对小型化组件所未有的可见性
轻松定位、识别和排除宏观弯曲、拼接、连接器和断裂,深入期间内部,评估每个接口的RL和IL,将IL点定位在网络或组件中的每个点上——消除削减(assembly – eliminate cutbacks)
7秒内以10微米的分辨率完成30米的测量
以3Hz的频率连续测量1米的范围
可测试并定位2千米的光纤网络故障
光纤组件的自动检验
器件或模块内温度及应力的监测
光纤或无源器件的故障定位
光纤温度传感、光纤应力传感
型号对比
参数 | OBR 5T-50 | OBR 4200 | OBR 4600系列 |
波长范围 | 1546.69nm | 1542±2nm | (OBR 4613) 1270-1340nm (OBR 4600) 1525-1610nm |
灵敏度 dB | -125 | -125 | -130 |
空间分辨率 mm | 0.02 | 1.5 | 0.01 |
插损动态范围 dB | 10 | 16 | 18 |
回损动态范围 dB | 65 | 50 | 70 |
相位测量功能 | 无 | 无 | 有 |
传感功能 | 无 | 无 | 有 |
Max. 测量长度 m | 8.5(可延长到16) | 500 | 2000 |
测试时长 s | 0.084(8.5m) | 3.8(10m) | 6(30m) |
点扫描模式
点扫描模式允许扫描被测设备的任何1米或2米区域,从而缩短测量时间和更小的数据文件。下表中的速率用于以100nm/s的激光调谐速度进行的测量。
点扫描测量速率 | ||||
Mode | - | 30 m mode | 70 m mode | Extended Range (2000 m) |
扫描的子区域 | - | 1 or 2 m | 1 or 2 m | 80 m |
波长范围 | 3.2 nm | - | - | 0.15 Hz |
5 nm | 3.7 Hz | 2.9 Hz | - | |
20 nm | 1.8 Hz | 1.2 Hz | - | |
80 nm | 0.5 Hz | - | - | |
z佳采样分辨率 | 10 μm | 20 μm | 0.25 mm |
示例应用
硅光子器件构建在硅光子平台上,代表了一种高水平的功能,可小型化为极高的封装密度。OBR 4600的高空间分辨率和高灵敏度提供了以非常高的细节水平查看设备内部的能力。
例如,UCSB的光电子研究小组在硅平台上制造了一条一米长的螺旋延迟线。OBR 4600用于测量光子集成电路(PIC)内部的分布损耗,该电路的尺寸仅为1cm2。
波导的水平部分在螺旋上的扫描如左下图所示。波导交叉点间隔仅50微米,清晰可见。
1米的螺旋波导显示在扫描波导中,与下面的螺旋环交叉。右图清楚地显示了一米螺旋上的分布损耗,包括水平波导交叉处的散射。
OBR 4600背光反射计参数表
参数 | 规格指标 | 单位 | ||
Max. 测量长度: | ||||
标准模式 | 30或70 | meters | ||
长量程模式 | 2000 | meters | ||
空间分辨率(两点间)1: | ||||
10um(30米内) | um | |||
20um(70米内) | mm | |||
1mm(2000米内) | mm | |||
死区: | ||||
等于两点间的空间分辨率 | ||||
波长范围2: | ||||
1270-1340 或 1525-1610 | nm | |||
波长 | ||||
分辨率(Max. ) | 0.02 | pm | ||
精度3 | ±1.5 | pm | ||
回损: | ||||
动态范围4 | 70 | dB | ||
总范围 | 0~-125 | dB | ||
灵敏度 | -130 | dB | ||
分辨率 | ± 0.05 | dB | ||
回损精度 | ± 0.1 | dB | ||
插损: | ||||
动态范围5 | 18 | dB | ||
分辨率 | ± 0.05 | dB | ||
插损精度 | ± 0.10 | dB | ||
群延时: | ||||
精度 | 1.0 | ps | ||
分布式传感6: | ||||
空间分辨率 | ±1.0 | cm | ||
温度精度7 | ±0.1 | ℃ | ||
应力精度7 | ±1.0 | μstrain | ||
测量时间8: | 标准模式 | 快速扫描11 | 定点模式11 | |
5nm扫描时间 | 3 | 1.6 | 0.3 | s |
时间与扫描波长速度 | 2.1s+0.14s/nm | 1.3s+0.06s/nm | 0.15s+0.02s/nm | |
长量程(2km)扫描时间 | 20 | s |
所有参数适用于单模光纤。
对于多模光纤,参数仅为名义值
1. 在整个长度内。
2. 名义范围。
3. 精度由内置的、NIST可追溯的HCN气室来保证。
4. 对于2千米的选项,回损动态范围是60dB。
5. 这个插损动态范围是在标准的单模光纤散射水平(~-100dB/mm)低于背景噪声(~-118dB/mm)前的单程损耗。
分布式传感
分布式传感作为一种选择,允许您使用OBR 4600通过分析标准现成光纤固有的瑞利散射来检测和监测连续应变和温度,用户指出的空间分辨率低至0.32毫米。或者,Luna ODiSI平台针对传感应用进行了优化,并提供易于使用的,可重复和稳健的传感器测量解决方案。具有分布式传感选项的OBR 4600在需要额外灵活性和定制的专业或研究应用中te别有用。
型号说明
Catalog # | Description | Includes |
OBR 4600 | 光学后向散射反射计,1525 nm-1610 nm | OBR 4600主机,适用于C和L波段和标准长度模式(30米和70米),仪器控制器(工作站级笔记本电脑)和配件套件。 |
OBR 4613 | 光学后向散射反射计,1270 nm-1340 nm | 用于O波段和标准长度模式(30米和70米)的OBR 4600主机、仪器控制器(工作站级笔记本电脑)和配件套件。 |
OPT06009 | 2000m测量扩展型号 | 可选择扫描长度不超过2km、样本间距为1mm的设备。 |
OPT06004 | 桌面分析软件 | 仅使用保存的OBR测量数据文件,提供OBR 4600的所有分析和数据可视化的软件。 |
OPT06008 | 自定义软件开发工具包 | 带有允许自定义GUI开发的DLL的SDK工具包。 |
四,OBR 5T-50 背光反射计 1546.69nm (8.5m或16m测量长度 适用生产线)
光学后向散射反射仪TM OBR 5T-50是一款快速、简单易用、低成本的精密反射仪,可测量无源光学组件和模块(包括PLC、光缆、连接器、开关、耦合器等)的插入损耗(IL)和回波损耗(RL)分布。该仪器利用扫频干涉测量法测量作为距离函数的后向散射光,灵敏度为-125 dB,采样分辨率为20微米。OBR 5T-50通过使用单个仪器测量RL、IL和长度,降低了成本和复杂性,同时提高了测试吞吐量。
OBR 5T-50 背光反射计 1546.69nm (8.5m或16m测量长度 适用生产线),OBR 5T-50 背光反射计 1546.69nm (8.5m或16m测量长度 适用生产线)业界优秀的测量速度、范围、精度和分辨率组合
•12 Hz采集速率
•8.5米测量范围
•0.0034%的飞行时间延迟精度
•20微米采样分辨率
包括简化的用户界面和软件开发工具包(SDK)
•通过定制界面优化吞吐量
自动定位反射事件并生成RL、IL和事件位置
•故障定位-自动RL、IL和长度测量
•亚皮秒分辨率的倾斜测量
•精密光缆和连接器
•PLC和波导设备
•耦合器、开关和分束器
•实时光学对准
型号对比
参数 | OBR 5T-50 | OBR 4200 | OBR 4600系列 |
波长范围 | 1546.69nm | 1542±2nm | (OBR 4613) 1270-1340nm (OBR 4600) 1525-1610nm |
灵敏度 dB | -125 | -125 | -130 |
空间分辨率 mm | 0.02 | 1.5 | 0.01 |
插损动态范围 dB | 10 | 16 | 18 |
回损动态范围 dB | 65 | 50 | 70 |
相位测量功能 | 无 | 无 | 有 |
传感功能 | 无 | 无 | 有 |
Max. 测量长度 m | 8.5(可延长到16) | 500 | 2000 |
测试时长 s | 0.084(8.5m) | 3.8(10m) | 6(30m) |
OBR 5T-50参数表
参数 | 单次扫描 | 10次扫描 | 单位 |
长度: | |||
Max. 测量长度 | 8.5 | meters | |
空间分辨率 1 | 20 | um | |
长度测量精度 2 | ±0.034% | ||
死区: | |||
Dead zone | 20 | um | |
波长: | |||
波长范围 | 40 | nm | |
波长精度 2 | 1.5 | pm | |
中心波长 | 1546.69 | nm | |
回损: | |||
动态范围 | 60 | 65 | dB |
回损量程 | -14~-120 | -14~-125 | dB |
灵敏度 | -120 | -125 | dB |
分辨率 | ± 1.0 | ± 1.0 | dB |
回损精度 | ± 1.0 | dB | |
插损: | |||
动态范围 | 10 | 15 | dB |
分辨率 | ± 0.5 | dB | |
插损精度 | ± 0.5 | dB | |
扫描速度: | 12 | Hz | |
Max. 光功率: | 8 | mW | |
其他: | |||
光纤接头 | FC/APC | ||
重量 | 7.85 | kg | |
规格(W*D*H) | 360 x 320 x 170 | mm | |
Max. 功耗 | 50 | W |
1.SMF-28中沿长度轴的两个采样点之间的距离。
2.通过NIST内部可追溯的HCN气室保证准确度。
3.最强反射大于-30 dB和本底噪声之间的范围。
4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。
5.以1cm的积分宽度测量。
6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。
7.以10cm的集成宽度测量。
基于MEMS的光开关的回波损耗与长度测量。前两个反射相距5.0毫米。该测量是以20微米的采样分辨率记录的。
业界优秀的测量速度、范围、精度和分辨率组合
五,OBR 4200 便携式背光反射计 1542±2nm (最大测量500m 用于外场施工)
Luna OBR 4200是业界一款具有反向散射灵敏度( backscatter-level sensitivity)的便携式超高分辨率反射计,旨在测试短网络。在一个小型、坚固、易于运输的平台中,OBR 4200能够“查看”500米外光纤组件或网络中的任何事件,无死区,分辨率为毫米。OBR 4200在便携式平台中具有业界优秀的灵敏度和分辨率,是光纤网络制造、现场检查和故障排除的最终工具。Luna OBR 4200为光纤模块和短期网络的制造商和安装商提供了所未有的现场便携式诊断功能。1
<3毫米空间分辨率
500米测试长度内无死区
-120dB的灵敏度
0.1dB的插损分辨率
OBR4200为光纤模块及短程网络的制造商和安装者提供了前未有的现场诊能力。
光纤或无源器件的故障定位及检验
光纤网络故障的现场诊断及排查
光纤组件、连接器和短程网络的品质检验
方便地定位及诊断光纤的弯曲、熔接、连接头及断裂等各类故障
定位各点的插损,可节省大量故障排查时间
光纤组件的多点位回损检验或光纤带缆的同步检验
可用户自定义的用于光纤组件合格检验的图形界面软件开发工具(GUI SDK)
光纤组件的自动检验
器件或模块内温度及应力的监测
型号对比
参数 | OBR 5T-50 | OBR 4200 | OBR 4600系列 |
波长范围 | 1546.69nm | 1542±2nm | (OBR 4613) 1270-1340nm (OBR 4600) 1525-1610nm |
灵敏度 dB | -125 | -125 | -130 |
空间分辨率 mm | 0.02 | 1.5 | 0.01 |
插损动态范围 dB | 10 | 16 | 18 |
回损动态范围 dB | 65 | 50 | 70 |
相位测量功能 | 无 | 无 | 有 |
传感功能 | 无 | 无 | 有 |
Max. 测量长度 m | 8.5(可延长到16) | 500 | 2000 |
测试时长 s | 0.084(8.5m) | 3.8(10m) | 6(30m) |
OBR 4200参数表
参数 | 规格指标 | 单位 | |
Max. 测量长度: | 0~500 | meters | |
空间分辨率: | 低分辨率 | 高分辨率 | |
事件分辨率(Event resolution)1 | <50 | <3 | Mm |
采样分辨率2 | 5 | 0.3 | mm |
中心波长3: | 1542±2 | nm | |
回损: | |||
动态范围4 | 50 | dB | |
总范围 | -10~-120 | dB | |
灵敏度 | -120 | dB | |
分辨率5 | ± 0.2 | dB | |
回损精度5 | ± 0.4 | dB | |
插损: | |||
动态范围6 | 16 | dB | |
分辨率5 | ± 0.1 | dB | |
插损精度5 | ± 0.2 | dB | |
扫描速度: | 低分辨率 | 高分辨率 | |
每次扫描前有2.6秒间隔时间 | 0.01 | 0.12 | s/m |
光学输出: | |||
接口类型 | FC/APC | ||
输出功率 | 10 | W | |
输出条件 | 标准单模光纤,可通过模式调节器来获得多模输出 | ||
环境: | |||
工作温度 | 0~40 | ℃ | |
储存温度 | -20~60 | ℃ | |
电源7 | |||
电池续航时间 | 5 | hr | |
电池充电时间 | 5 | hr | |
规格重量 | |||
规格 | 8.5(L) x 10.7(W) x 3.85(H) | in | |
重量 | 9.8 | lbs |
所有参数适用于单模光纤。多模光纤的测量需要通过模式调节器来获得。
1. 50米长的SMF-28e光纤中14.5dB的FWHM峰宽,峰宽随着距离和模态分散的增加而增加。
2. 轴向上两个采样点之间的距离。
3. 扫描了以此为中心的3纳米宽的波长范围。
4. 比最强反射大-30dB和背景噪声之间的范围。
5. 2米整合宽度下的测量。
6. 在散射达到背景噪声前的可允许的双程损耗和插损的测量将不再可能。
7. 便携计算机的电池续航能力及充电时间,请参看便携计算机的数据手册。
损耗测试
上图:具有弯曲损耗和拼接损耗的光纤线束的OBR 4200测量
下图:连接前7厘米处易于区分的弯曲损耗
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