供货周期: | 现货 |
品牌: | 完美光子 |
所属类别:? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪
所属品牌:法国Phasics公司
Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上,即4波横向剪切干涉技术。(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上,这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下,其都能实现全面、简便、快速的测量。
SID4: 一款紧凑型的波前传感器
SID4波前传感器体积小巧,结合了传统的剪切干涉的优势,安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术(基于改善后的哈特曼衍射遮挡板)。SID4是测量光束特性的必要工具,在光学测量方面有着许多应用。
波长范围:350-1100nm
分辨率高(160*120)
消色差
测量稳定性高
对震动不敏感
操作简单,Firewire IEEE 1394
结构紧凑,体积小:可用笔记本电脑控制
操作简单,Firewire IEEE 1394
结构紧凑,体积小:可用笔记本电脑控制
SID4 HR:高分辨率波前传感器
SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图,保证了高精度测量,可用于对各种光学器件的测量,如透镜,物镜,球面镜,微透镜特征测量等
波长范围:400-1000nm
高性能的相机,信噪比高
实时测量,立即给出整个物体表面的信息(120000个测量点)
曝光时间极短保证动态物体测量
SID4 HR操作简单
SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器
PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量(例如印刷、半导体等等)和表面检测(半导体晶片检测…)。
高分辨率(250*250)
通光孔径大(8.0mm*8.0mm)
覆盖紫外光谱
灵敏度高(0.5um)
优化信噪比
SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器
SID4 NIR是一款覆盖近红外范围(1.5um-1.6um)的高分辨率波前传感器。
用于光学测量,SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。
高分辨率(160*120)
绝对测量
快速测量
对于振动不敏感
性价比高
SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器
PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR
光学测量:SID4 DWIR是测量红外物体特性(热成像和安全视觉)或红外透镜(CO2激光器)的理想工具,输出结果包括MTF,PSF,像差,表面质量和透镜焦距。
光束测量:(CO2激光器,红外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数:像差,M2,光强分布,光束特性等)
高分辨率(96*72)
可实现绝对测量
可覆盖中红外和远红外波段
大数值孔径测量,无需额外中转透镜
快速测量
对振动不敏感
可实现离轴测量
性价比高
SID4软件介绍
与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件,其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。
借助Labview和C++ 可编程模块数据库(软件二次开发工具包),客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。
adaptive optics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学,选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的,利于激光光束和成像系统。
传统的测量结果与Phasics的测量结果对比:
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