方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | 电子元器件产品 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | X-ray |
X光检测系统是PCB和半导体器件质量控制、成品率提高和失效分析的关键工具。在许多情况下，这些强大的工具提供了检查电子元件的唯一无损技术。在过去的几年中，X光检查能力(2D和3D)有了显著的改进。在本文中，我们报道了一种新的发展，允许通过二维x射线检查获得材料和厚度信息。
文献贡献者
X光无损检测及超声波无损检测应用手册
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询
