型号: | DSPECjr2.0100 |
产地: | 美国 |
品牌: | 泰坤工业 |
评分: |
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新型数字化谱仪:DSPEC-LF,-jr2.0, -Pro & DigiDART
基本特征:
小巧的外观,强大的功能。
一切控制与参数设置由计算机进行。
高的数据通过率:大于100Kcps (DSPEC-Pro大于130Kcps)。
数字化稳谱、数字化自动极零、自动最优化、内置虚拟示波器和数字化门控基线恢复等功能。
用户可预置多个核素的MDA,在所有MDA满足时自动终止计数。统一的“即插即用”式背面板接口,与DIM/Smart-1匹配,相互间具有良好的互换性与兼容
数字化自动极零:
自动极零技术主要基于解决(中)高计数率情况下分辨率变差的问题。该技术最早与门控基线恢复和脉冲抗堆积功能一起,集中应用于ORTEC 672主放。
自动最优化功能:
对于样品活度水平完全未知的情况,可以通过软件快速设置“自动最优化”功能,由系统快速选定最佳的参数设置。
零死时间校正(ZDT):
在谱获取中,对于中子活化分析中计数率快速衰减、或是在线测量时突然出现的尖峰信号的情况,ZDT方法采用ORTEC精密的Gedcke-Hale时钟进行零死时间校正,以实现无损失计数(Loss-free Counting)。由软件可以快速选定这一功能。经校正的谱图和未经校正的谱图可以同时保存,以作进一步分析。ZDT在显示校正后的谱图的同时给出与之对应的不确定度。
低频抑制器(LFR):
LFR是一项新型的数字化滤波技术,主要用来消除来自于机械制冷、电源电压波动或接地不良等外部因素导致的低频噪声信号,从而使系统的分辨率得到进一步改善。用户可根据情况选择开启或关闭此项功能。
弹道亏损校正/虚拟示波器:(-Pro,-50)
在系统采用相对效率较高的HPGe探测器或遭遇中子损伤的探测器时,弹道亏损效应(Ballistic Deficit)常导致分辨率变差甚至恶化(尤其在高能端),ORTEC数字化谱仪可以通过其内置虚拟示波器轻松解决这一问题:比如对207%的HPGe探测器,将平顶时间设为0.8μs,就能使分辨率达到理想水平。当然,也可以结合软件通过自动最优化功能轻松完成参数设置。
技术参数:
最 大数据通过率: 大于100kcps; DSPEC-Pro在“增强通过率”模式下大于130kcps。
增益:粗调:由计算机选定为1,2,4,8,16,或32;细调:由计算机设定为0.45至1.00。
成形时间常数:上升时间:0.8至23 ms可调,每步0.2ms,由计算机选择;平顶:范围从0.3至2.4ms,每步0.1ms,由计算机选择。在自动最优化功能下自动调整。
存储器分段(系统变换增益):由计算机选择为16,384,8192,4096,2048,1024或512道。
非线性:积分非线性:≤ ±0.025%;微分非线性:≤ ±1%
数字化稳谱器: 由计算机控制并稳定增益和零点。
温度系数:增益:<35ppm/°C;零点:<3 ppm/°C。
过载恢复:在最大增益时,能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内。
脉冲抗堆积:自动设定域值,脉冲对分辨率为500ns。
自动数字化极零调节:由计算机控制,可以手动或自动设定,远程模拟示波器方式诊断。
LLD/ULD:数字下域电平甄别器,以道为单位设置,LLD以下所有各道的计数被卡掉;数字上域电平甄别器, ULD以上所有各道的计数被卡掉。 数字化门控 基 线恢复器:可由计算机调节恢复频率(高、低或自动)。
数据存储器:16,384道不丢失数据存储器,每道容量231-1(20亿)计数。
计数率显示:在谱仪或电脑屏幕上显示计数率。
死时间校正:按Gedcke-Hale 法活时校正,精度(随峰面积而变化): <+ 3% ( 0 – 50,000 cps)。
显示/接口:240′160像素(pixel)背光液晶显示(LCD)提供谱的活显示和状态信息。USB2.0接口。
尺寸与重量:-LF,-jr2.0, -Pro :24.9D×20.3W×8.1 H cm, 1.0kg; DIM:11.2×3.13×6.5 cm, 240gDigiDart:20×10×7.5cm;重量:<900克(含电池);
工作条件:-LF,-jr2.0, -Pro 5°C到50°C(包括LCD显示)。DigiDART -10°C到60°C
操作系统:Windows 98/2000/XP/Vista/NT
DigiDART是一款便携式谱仪,但其性能指标好不逊色于实验室谱仪,完全可以代替实验室谱仪工作。
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