| 型号： | TK-DSPECjr2.0 |
| 产地： | 北京 |
| 品牌： | 泰坤工业 |
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新型数字化谱仪：TK-DSPEC-LF，-jr2.0, -TK-Pro & DigiDART
配套高纯锗探测器的一款新型数字化谱仪。其设计功能完善，其稳定性业已经实际使用验证。针对高效率探测器或高 计数率条件下对信号处理的要求，结合软件，谱仪在数字化极零调 节、死时间校正和弹道亏损校正方面做了具有相当先进性和独到 性的设计。
谱仪整体功能与特性：
全数字化控制，保证人机交互灵活
探测器回温情况下高压自动切断功能（shutdown）
多种滤波模式，可根据特定环境配置滤波参数，具备低频噪声抑制功能
具备门控数字化基线恢复，自动极零，零死时间校正，弹道亏损校正等完 整先进功能
最大数据通过率大于 100kcps，对高计数率样品能获得准确的测量结果
支持 USB3.0 接口
谱仪特征功能：
基础参数显示：系统的电源开启状态，高压开启状态，高压目标值，高压升降过程 动态显示。
全数字化自动高压加载：用户根据探测器参数选定高压后，系统自动按指定的速率 和目标值进行高压加载，直到满足探测器要求。
异常处理功能：当系统意外掉电，设备自动启动 UPS 功能，并按异常处理逻辑，进 行高压缓降，以保护探测器安全。
抑制电荷收集时间效应功能：基于 FPGA 的硬件算法，利用快通道梯形脉宽来统计 电荷收集的方法简单实用高效。
系统非线性：积分非线性：≤ 0.01%；微分非线性：≤±0.28
最大通过率：成形时间设置为上升时间 500ns，平顶时间 500ns时，系统等效的死时间约为 2.79μs，此时，最大脉冲通过率将达到 130Kcps。
粗调增益：：由计算机选定为 1,2,4,8
细调增益：由计算机设定为 0.45 至 1.00
尺寸与重量：376D X 242W X 116 H mm, 2.2KG
工作条件：0C 到 50C（包括 LCD 显示）。操作系统：Windows 7/ Windows10。
显示/接口：320240 像素(pixel) 有机发光半导体(OLCD)系统状态信息。220V
市电接入端子，USB3.0接口。高压输出接口，探测器电源接口，探测器信号输入端子。
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