| 型号： | 瑞美RM115EL X射线荧光 实验室涂层测厚仪 |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | 赛默飞 |
| 评分： |
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用于安装在：
热镀锌线
电镀线
这台实验室涂层测厚仪能对用于带钢的金属涂层（镀锌，锌铝合金，铝，锡，镀铅锡板，……）进行精确、快速的非接触式涂层重量测量。
测量：
对样片进行离线涂层厚度测量，无需化学分析。
功能：
精确的样板测量，无需高成本、冗长的化学分析。由于使用非破坏性射线来测量，样片可以作为质量保证的目的而保存下来。与在线式测厚仪相比，它不会受到生产过程所产生的干扰的影响。通过对插入的样片进行扫描，可以得到样片区域金属涂层的拓扑结构。由于使用了与在线系统相同的探头和电子部件，这套实验室用涂层测厚仪的部分配件可以做为它的“可用的备件”。 在界面友好的操作终端上操作/显示测量值。操作终端通过以太网与测厚仪主电柜内的处理电路相连。
设计紧凑:
在操作时，无需在测厚仪机柜以外设置安全区域。安全电路也能防止在打开机柜或防止样片的抽屉时发生辐射泄漏。
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