薄膜材料无损检测-相变温度和热膨胀系数-光功率热分析仪(OPA)上海昊扩华东大区总代理

2015/07/03   下载量: 14

方案摘要

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应用领域 材料
检测样本 薄膜材料
检测项目
参考标准 能测量低至5nm的薄膜材料

本仪器为无损检测,并可同时检测材料的相变温度和热膨胀系数。OPA 的研发成功,一举填补了无损检测纳米级薄膜材料相变温度和热膨胀系数的国际性空白, 能测量低至5nm的薄膜材料。

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