准动态测量法测量块体、薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率 - 热电参数测试系统（Namicro) )- 上海昊扩华东大区总代理

2015/07/06   下载量： 8 次

方案摘要

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应用领域 材料
检测样本 薄膜材料
检测项目
参考标准 相对误差 塞贝克系数 ≤ 6%（拟合度：99.999%），电阻率 ≤ 5%

本仪器采用准动态法（具有）和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率。不仅可用于测量半导体块状样品，康铜、镍、铋等金属半金属样品，石墨、碳材料等非金属样品的seebeck 系数和电阻率，还可测薄膜（纳米）样品的 seebeck 系数和电阻率。

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上海昊扩科学器材有限公司
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