型号: | 多用途样品台 |
产地: | 德国 |
品牌: | STOE |
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产品介绍:
1.产品特点
· 手动或者电脑对X轴或Y轴进行+/-10mm的平移,分辨率为5mm;
· 手动或者电脑控制样品的旋转,分辨率为0.0072°;
· 进行微米级别的手动控制Z轴平移使晶体表面的取向或样品的摆放对准基准刀片。
2.适用仪器
STADI P、STADI MP
PILATUS3 X-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器
EIGER2 R CdTe-DECTRIS(德科特思)光子计数X射线探测器
EIGER2 S-瑞士DECTRIS(德科特思)光子计数X射线探测器
EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS(德科特思)光子计数探测器
EIGER2 X/XE-瑞士DECTRIS(德科特思)光子计数探测器
Pilatus 3X系列探测器
EIGER2 R-DECTRIS(德科特思)混合像素光子计数探测器
EIGER X混合像素光子计数X射线探测器
PILATUS3 R -DECTRIS(德科特思)光子计数X射线探测器
PILATUS3 X -DECTRIS(德科特思)光子计数X射线探测器
PILATUS3 S-DECTRIS(德科特思)光子计数X射线探测器
PILATUS3 R CdTe-DECTRIS(德科特思)光子计数探测器
PILATUS3 X CdTe-DECTRIS(德科特思)光子计数探测器
MYTHEN2 R-瑞士DECTRIS(德科特思)光子计数X射线探测器
MYTHEN2 X-瑞士DECTRIS(德科特思)光子计数X射线探测器
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