电子元器件 HAST 高温稳态寿命试验分析

2024-10-22 10:52  下载量:0

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本文围绕电子元器件 HAST 高温稳态寿命试验展开。依据国家J用标准,J用电子器件新产品需进行 “鉴定检验” 和 “质量一致性检验”,其中都有 “高温 1000h 通电稳态寿命试验” 要求。国内外电子器件标准均通过各种试验保证质量,各国对电子器件工作寿命试验至少为 1000h。实践表明,该试验能发现问题提升质量,如国内多个厂家在试验中改进产品。此外,通过 “可靠性试验” 可确定失效率和可靠性等级,国内外均重视此项工作。为保证质量,需考虑不同温度下试验最佳次数,综合来看,我国J用电子器件高温稳态寿命试验应至少按加严 “七专” 技术条件进行 2 次 1000h 试验考核,以确保航天型号产品关键电子器件的高可靠、长寿命。 一、引言

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