型号: | SER-B-3 |
产地: | 广东 |
品牌: | 赛思SETH |
评分: |
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冷热冲击应力筛选试验箱对不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)
冷热冲击应力筛选试验箱特点:
1、可执行AMP(等均温变)、三箱冲击(TC)、两箱冲击(TS)、高温储存、低温储存功能;
2、可执行慢速温度循环[3~5℃/min]符合IEC60068-2、应力筛选ESS[5~15℃/min]符合JESD22、快速温变[15~30℃/min](40℃/min)、冷热冲击四种不同设备的温变试验Laboratory Class;
3、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求;
4、待测品自动负载调整免手动设定预冷预热,可依据待测品负载量系统自动调整。
5、精灵快捷键 人性化快速进入选单高低温常温冲击 ;
6、超低除霜次数 高低温常温冲击(3 Zoon)100Cycle免除霜,缩短试验时间与能耗。
7、赛思采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行;
9、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能;
10、感测器放置测试区出(回)风口赛思设计符合实验有效性;
11、机台多处报警监测,配置无线远程报警功能;
冷热冲击应力筛选试验箱测试规范:
标准:满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求。
产品&规范 | 厂商名称 | 高温 | 低温 | 温变率 | 循环数 | 循环时间 | 备注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90电子产品应力筛选 | —— | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min | —— |
MIL-344A-4-16电子设备环境应力筛选 | 设备或系统 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
MIL-2164A-19电子设备环境应力筛选方法 | —— | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 10℃/min | 10 | —— | 驻留时间为内部达到指定温度10℃时 |
NABMAT-9492美军海军制造筛选 | 设备或系统 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 驻留时间为内部达到指定温度5℃时 |
GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选指南 | 组件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 达到温度稳定的时间 |
GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选指南 | 设备或系统 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 达到温度稳定的时间 |
笔记本电脑 | 主板厂商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
冷热冲击应力筛选试验箱技术规格:
型号 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
内箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
预冷、预热范围 | -00.00℃~-75.00℃/+60.00℃~+200.00℃ | |||
应力冲击范围 | -10.00℃~-65.00℃/+60.00℃~+150.00℃ | |||
时间设定范围 | 0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment | |||
分辨率 | 0.01℃/min | |||
温度均匀度 | ±3.00℃以内(under℃3.00℃) | |||
温度应力变化范围(最小/分钟) | +5℃~+30℃/min(+40℃) | |||
冲击试验温度 | -65℃~+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃) | |||
三箱冲击温度范围 | -55℃~+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃) |
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