【产品介绍】

将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器，由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将图像传输给电脑，通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理，具有直观、形像、准确和测量范围宽等特点。

1、图像多种处理方法：影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。

2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。

3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数，以线性或非线性统计方式绘出分布图。

上海仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪（配进口显微镜）

【主要技术参数】

仪器型号	WKL-702
测量范围	0.1～3000（微米）
总放大倍数	8000倍
最大分辨率	0.1微米/像素
重复性	误差≤±1％
自动分割速度	≤1秒
数字摄像机(CCD)	500万像素
数据储存	电脑另配
通信接口	USB
操作系统	Windows 98/XP/7/8/10系统均可
电源	AC220V ±10％ 200W
仪器尺寸	270mmX410mmX440mm
仪器净重	15kg

上海仪电物理光学仪器有限公司为您提供仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪（进口显微）WKL-702（配进口显微镜），仪电物光WKL-702（配进口显微镜）产地为上海，属于国产激光粒度仪，除了仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪（进口显微）的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多激光粒度仪,仪电物光客服电话400-855-0352，售前、售后均可联系。

仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪（进口显微）

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