间歇接触式扫描电化学显微镜研究样品形貌特征

2017-05-10 14:35  下载量:3

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ic-SECM是Varwick大学近期研发的一项新技术,它可以在进行SECM测试的同时追踪样品的表面地形。应用ic-SECM技术可以使探针与样品在较大面积上保持一个恒定的距离,不仅可以消除样品倾斜度对测试结果的影响,还可以同时测定样品的表面地形。M470允许用户将ic技术应用到直流和交流扫描电化学显微镜测试中。这篇文章通过以下四种样品的测试来演示ic技术在研究表面形貌方面的应用:(1)凹面样品,(2)凸面样品,(3)钢的焊接样品,(4)20分欧元硬币。

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