资料摘要
资料下载充分利用SEM的高空间分辨率， 结合阴极发光对材料的官能表征， 实现纳米级光学性能和材料结构表征。 ARC（angle resolved cathodoluminescence）由FOM Institute of AMOLF的Albert Polman group 创新研发， 获得2014年MRS创新大奖。 后由荷兰Delmic公司重新设计并商用，它是一套高性能的阴极荧光检测系统。凭借独特的高精度镜面，SPARC开辟了新的研究途径，如电子束引起的纳米光子学。灵敏度和易用性，SPARC帮助科学家推动阴极荧光到更多和更高阶应用。
文献贡献者
阴极发光CL与其他SEM探测技术的区别
简介：阴极发光CL与其他SEM探测技术的区别 研究材料最常用的SEM表征手段是什么？ 从这些常用的SEM表征手段可以获得什么材料信息？ 阴极发光CL探测技术与其他SEM表征手段有什么不同？ 阴极发光CL成像的5大优势
6 imaging modes of cathodoluminescence detector
简介：阴极荧光光谱仪 6种先进成像模式 光强映射 角分辨 高谱像 时间分辨 极化成像 动量成像 时间分辨阴极发光成像系统LAB Cube网络研讨会视频-Delmic Time-resolved cathodoluminescence presentation 视频:先进阴极发光系统-delmic SPARC系统使用介绍 苏州德尓微仪器有限公司，位于苏州相城区长三角国际研发启动区。作为荷兰Delmic公司中国授权代理商，我们提供集成光电联用（iCLEM）和高性能阴极发光光谱仪（时间分辨、角分辨）销售和服务。 更多信息欢迎联系苏州德尓微仪器 苏州德尓微仪器有限公司 电话：0512 8166 0899 地址：苏州相城区长三角国际研发启动区 官网：www.dervee.com
时间分辨阴极荧光应用案例：Cathodoluminescence g(2) imaging
简介：The g(2) function (also known as second order autocorrelation function) is a very useful tool to observe how the light is distributed in time. It essentially describes the probability of seeing more than one photon at the same time and can be used to identify and characterize single-photon emitters at the nanoscale. The g(2) imaging can be detected with the SPARC LAB Cube, a time-resolved detector unit, which contains appropriate coupling optics, a beam splitter, two SPDs, and neutral density/color filters for control of the intensity and studied wavelength band. The LAB Cube is coupled with the SPARC spectral system, which allows to switch between g(2) detection and other various imaging modes, such as lifetime, hyperspectral, and angle-resolved CL imaging. To read more about the g(2) imaging and its possibilities for different applications, please download the technical note below.
您需要了解的先进阴极发光系统
简介：如果您的研究兴趣在纳米光子学、材料科学或地质领域，您一定听说过阴极发光探测。 如果没有这方面的了解， 以下我们将为您讲述关于阴极发光探测的相关知识。 内涵相关PPT、视频讲解等
集成式光电关联技术如何工作?
简介：对于生命科学来说，获得样品的结构和功能数据以理解纳米尺度上生命过程至关重要。荧光显微镜使研究人员能够获得功能信息，它提供了理解细胞动力学相关的数据。但由于光的衍射极限导致分辨率有限，无法获得纳米尺度下高分辨。生命科学家使用电子显微镜，充分利用其纳米级高分辨率获得生物结构信息。 采用多模式成像，获取有关样品结构和功能数据意味着巨大挑战。首先，从荧光显微镜成像样品后将其转移至电子显微镜需要非常细致工作，消耗大量时间。其次，图像的叠加非常困难，容易导致数据准确性差。最后，在将样品从光学显微镜转移到电子显微镜的过程中，可能会造成污染、样品收缩甚至损坏样品。 光镜和电子显微镜（CLEM）关联技术，简称光电关联，结合了两种显微技术的优点，有助于更快更轻松地获得需要的数据。我们的应用专家Dr. Sangeetha Hari精心准备了一个视频，详细解释delmic独特的集成式光电关联技术如何工作。 SECOM平台， 是delmic公司创新的集成式光电关联解决方案，以极高的光学质量和荧光像与电镜像精准快速叠加，实现官能与超微结构的完美结合。该技术除了应用于神经、细胞、病理、海洋微生物等生命科学领域，还应用于地质、材料科学等。 如需更多信息，欢迎直接联系我们。 视频链接：
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