Phenom Pro_3 高分子膜领域扫描电子显微镜
国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000
ParticleX 全自动颗粒分析系统
主要特点:1.浸没式热场发射电子枪,束流强度最大200nA(15KV)2.无漏磁物镜设计,便于磁性样品观测和EBSP观测不变形3.自动光阑角控制器,无需调整光阑4.全自动控制聚焦、合轴、消像散、控制扫描速度5.适于配合多种分析性探头
扫描电镜SEM简介
扫描电镜技术及其应用
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