资料摘要
资料下载ATRS-01它利用全反射的原理来对样品进行测定。测量时，样品与晶体表面紧密接触，从晶体下端入射的红外光透过晶体与样品，进入到样品几个微米的深度，再反射回晶体，再到达检测器，得到测试样品的红外光谱图。
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