资料摘要
资料下载薄膜的反射扫描会生成干涉条纹。各波长范围内的条 纹数量取决于反射角、薄膜厚度和薄膜折射率。如折 射率已知,则在一个折射角采集的数据足以计算薄膜 厚度;如折射率未知,在两个折射角所采集的数据可 用于计算折射率和薄膜厚度。所有计算均在电子数据 表格中自动完成,以便技术人员操作。采用分光光度 计得到的结果与折光仪测得的结果良好吻合。
稳定同位素比质谱仪具有哪些新体验,你清楚吗?
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想把荧光光度计使用好,了解它的原理是关键
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美国赛默飞B20/B20-ER表面污染检测仪测量范围
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赛默飞纯水机使用中出现水质下降有哪些原因
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