NPflex 大样品计量检测光学轮廓仪
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NPflex 大样品计量检测光学轮廓仪

参考价:¥100万 - 200万
型号: NPflex
产地: 美国
品牌: 布鲁克
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应用领域:
核心参数
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产品详情

NPflex 大样品计量检测光学轮廓仪


针对大样品设计的非接触测试分析系统

(1)灵活测量大尺寸样品,满足高难度测量角度的精确测量

(2)高效的三维表面信息测量

(3)垂直方向纳米分辨率提供更多的细节

(4)快速获取测量数据,测试过程迅速高效


布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测性能,实现更快的试产扩量时间,提高了产品质量和生产力。基于白光千涉的原理,这套非接触系统提供了诸多先进的优点,远超通常接触式坐标测量仪(CMM)和工业级探针式轮廓仪的测量技术所能提供的。这些测量优势包括高分辨的三维图像,进行快速丰富的数据采集,帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样品测量仪器设计的经验,NPFLEXTM 3D可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统,而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息,可用于表面粗糙度,RDL先进封装工艺厚度等测试。

其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度

(1)创新性的空间 设计使得可测零件(样品)更大(高达330毫米)、形状更多

(2)开放式龙门、定制的夹具和可选的旋转测量头可轻松测量待测部位

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高效的三维表面信息测量

(1)每次测量均可获取整个表面高度信息,用于各种分析

(2)更容易获得更多的测量数据来帮助分析

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垂直方向纳米分辨率提供更多的细节

(1)干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率

(2)工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据,为日渐苛刻的加工工艺提

供保障

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测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效

(1)最少的样品准备时间和测量准备时间

(2)比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据


技术参数

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冠乾科技(上海)有限公司为您提供布鲁克NPflex 大样品计量检测光学轮廓仪,布鲁克NPflex产地为美国,属于进口轮廓仪,除了NPflex 大样品计量检测光学轮廓仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供布鲁克3D光学轮廓仪、布鲁克光学轮廓仪ContourX-200、布鲁克光学轮廓仪ContourX-500,Grant Tech客服电话,售前、售后均可联系。

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