资料摘要
资料下载LT2200E激光粒度仪加持了偏振滤波专利技术，摒弃传统的针孔和机械调整，实现高稳定激光偏振设置和空间滤波；真理光学首创的衍射爱里斑反常变化（ACAD)的补偿修正技术的使用，使用户无需选择分析模式，即可在全粒径范围获得准确可靠的粒度结果。 LT2200E粒度仪的粒径范围为0.1um-1200um, 适用于制药，电池材料，地质，水文，化工和磨料等诸多行业的颗粒粒度分析。
文献贡献者
真理光学小课堂：激光在激光粒度分析仪中的主要作用
简介：激光粒度分析仪是纳微米材料科技工作者必备的工具，利用粒度仪可简单快速地了解材料在各个粒径段的占比，实现对纳微米材料的技术研究和质量控制。为了让大家对激光粒度分析仪有更进一步的认识，今天我们从源头探索激光的奥秘，看看它在微观颗粒测试中的独特应用。
Nanolink SZ902纳米粒度及Zeta电位分析仪产品样本
简介：Nanolink SZ902系列纳米粒度分析仪是继在SZ901系列纳米粒度分析仪后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了真理光学最新研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。
LT2100系列激光粒度分析仪产品样本
简介：LT2100主机采用激光衍射法的粒度分析系统，粒径范围0.05um至1200um, 该系统采用全新的光路设计及改进型的光学模型和优化的反演算法，克服了爱里斑的反常变化(ACAD)对粒度分析结果的干扰，且无需选择分析模式。光源为波长638nm, 20mW集成恒温系统的超高稳定的固体激光器，采用偏振滤波技术，使用斜入射窗口及超大角检测技术，全角度范围无盲区，在整个粒径范围内均可获得准确可靠的结果。光路自动对中设计，自动化程度高。
Spraylink喷雾粒度仪样本
简介：Spraylink超高速实时喷雾粒度分析仪采用最优化的高灵敏度检测和全息信号处理系统，并融合高浓度补偿技术，可确保在高达90%的遮光度下准确测量雾滴颗粒的粒度分布。10KHz的数据采集速率，能够完成每秒10000次喷雾粒径测量，从而动态捕捉0.1毫秒时间间隔的颗粒粒度分布；无需更换透镜，即可覆盖0.1um-2080um的动态测量范围；喷雾全过程粒度变化跟踪分析及喷雾粒度历史结果回放功能。
Nanolink SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪产品样本
简介： Nanolink SZ901系列是真理光学在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。
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