半导体控温设备测试说明

2019-04-08 16:45  下载量:2

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  半导体控温设备在冷源和热源的温度下进行测试的工作,那么半导体控温设备测量可重复性以及可复制性也是很重要的,这些在测试中需要注意什么呢?   半导体控温设备测量可重复性和可复制性是用于评估测试设备对相同的测试对象反复测试而能够得到重复读值的能力的参数。也就是说是用于描述测试设备的稳定性和一致性的一个指标。对于半导体测试设备,这一指标尤为重要。从数学角度来看,就是指实际测量的偏移度,测试工程师必须尽可能减少设备的固定值,过高的值表明测试设备或方法的不稳定性。

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