资料摘要
资料下载由日本公司研发特制TEM样品杆，在原位拉伸试验中具备纳米级高分辨率，也可搭配断层扫描系统产生4D数据，搭配各家SEM样品座轻松移动样品，资料附件为英文详细规格。
智能环境监测系统 Spicer SC28 英文型录
简介：Spicer monitoring system SC28 English Catalogue ，监控系统专门设计用于监控高阶电子束仪器的环境，包括扫描电子显微镜 (SEM)、穿透射电子显微镜 (TEM)、电子束光刻工具（曝光机）和基于 SEM 的计量和检测工具。它可以记录环境磁场、振动、噪音、温度和相对湿度的频谱和图表。
双倾冷冻及真空传输TEM样品杆Double tilt LN2 Atoms Defend Holder 英文型录
简介：由日本Mel-build特别设计，专门为需要双倾、冷冻及杜绝真空传输之TEM样品杆，提高便利性与观测准确性，资料附件英文详细规格。
多功能TEM样品杆 HATA Holder System 英文型录
简介：多功能TEM样品杆由日本Mel-build设计，专门为FIB/TEM/APT等等实验室仪器制定通用样品台，搭配不同机型前端样品座，即可轻松切换至不同仪器上观测使用，提高便利性与安全性，资料附件为英文详细规格。
环境检测分析仪Spicer SC11 英文型录
简介：Spicer Sensor Interface Analysis system SC11 English Catalogue便携式电脑装置，精确测量实验室环境磁场、振动和噪音声波，并具备测量和分析系统，完整呈现实验室环境状态，资料附件为英文详细规格。。
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