方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 电子元器件产品 |
检测项目 | |
参考标准 | / |
微米级微区二维衍射分析
本应用报告描述了使用配备Montel反射镜和EIGER2 探测器的D8多功能衍射仪对电子板上的焊接接头进 行微区衍射测量。 由于微晶尺寸相对于探测区域较大,在小区域上进行 的衍射实验通常导致较差的颗粒统计。 具有大角度覆盖的检测器对于最小化丢失衍射信号的 风险是必要的。文中使用EIGER2探测器的能力 -优化模式确保最大衍射光束捕获。
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