| 型号： | LQ-GD-408f |
| 产地： | 广东 |
| 品牌： | 柳沁科技 |
| 评分： |
|
半导体温度试验箱可以模拟各种温度环境，进行高低温恒定、渐变、突变试验。适用于检测半导体、电子、电器、led、通讯、塑胶制品、仪表、金属、化工、食品、汽车等产品。主要是提供给工业产品做复杂温度环境的可靠性试验，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便于产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。
半导体温度试验箱常规型号及规格参数：
试验箱型号：LQ-GD-080 LQ-GD-150 LQ-GD-225 LQ-GD-408 LQ-GD-1000
内容积(L)：80 150 225 408 1000
内部尺寸(cm)：40×50×40 50*60*50 50×75×60 60×85×80 100×100×100
外部尺寸(cm)：90*90*150 95*150*105 95×165×115 105×175×135 145×190×155
温度范围：低温-75℃，低温-60℃,低温-40℃，低温-20℃，低温0℃，高温+150℃，+150℃
温度均匀度：±2℃
温度波动度：±0.5℃
升温速率:≥3℃/min
降温速率:≥1℃/min
内体材料:SUS304不锈钢板
外壳材料:SUS304拉丝不锈钢板或防锈处理冷轧钢板（喷塑）
绝缘材料:可编程高低温实验箱专用超细玻璃棉+聚胺脂泡沫
制冷方式:机械式二元制冷方式
制冷机:全封闭（法国泰康或德国谷轮）压缩机
制冷剂:美国杜邦R23/R404A
冷凝方式:风冷或水冷
加热器:镍铬合金不锈管加热器
鼓风机:离心风机
气流方式:宽带式强迫气流循环（上出下进）
执行标准：GB/10589-2008高低温试验箱技术条件
满足标准：GB/T2423.1-2008低温试验方法
GB/T2423.2-2008高温试验方法
相关产品
工商信息
信息已认证
关注
拨打电话
留言咨询
