纳米粒度及Zeta电位分析仪 SZ901

参考价：面议

型号：	SZ901
产地：	北京
品牌：	斯达沃
评分：

核心参数

产地类别：国产
粒度测量范围： 0.3nm – 15μm
温控精度： ±0.1°C

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产品详情

SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：

SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪是在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。

SZ901的性能和主要特点包括：

◆经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm – 15μm

◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性

◆加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用

◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

◆ 信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

◆ 常规温度控制范围可达0°C - 90°C, 可选120°C, 精度±0.1°C

◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹¹

◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术

技术指标：

测量原理	动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）
粒径测量角度	90°
粒径测量范围	0.3nm -15μm*
粒径度	优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）
粒径重复性	优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）
粒径测量小样品浓度	0.1mg/ml
粒径测量小样品量	3ul*
Zeta电位测量范围	-600mV - +600mV
电导率	270mS/cm
适用Zeta电位测量的粒径	3nm – 100μm*
电导率度	±10%
分子量范围	340Da-2 x 107Da
温度控制范围	0°C - 90°C (120°C可选)
温度控制精度	±0.1°C
光源	集成恒温系统及光纤耦合的功率50mW, 波长638nm固体激光器
相关器	高速数字相关器，自适应通道配置
检测器	高灵敏度APD
系统重量	17kg
外形尺寸	365mm x 475mm x 180mm（LxWxH）

北京斯达沃科技有限公司为您提供斯达沃纳米粒度及Zeta电位分析仪 SZ901，斯达沃SZ901产地为北京，属于国产纳米粒度仪，除了纳米粒度及Zeta电位分析仪 SZ901的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多纳米粒度仪,斯达沃客服电话400-860-5168转4433，售前、售后均可联系。

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