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专为4D STEM设计的混合像素探测器

参考价：面议

型号：	DECTRIS ARINA
产地：	德国
品牌：	德科特思 DECTRIS
评分：
荣誉奖项：

核心参数

产地类别：进口

创新点

DECTRIS ARINA®可伸缩电子计数探测器是专门为4D STEM应用开发的。它采用了一个全新的专有集成电路设计（ASIC），结合高达每秒12万帧的理想速度、高动态范围和无噪音的读出能力，从而使高质量的数据采集达到传统STEM探测的原生速度。得益于DECTRIS的混合像素技术，ARINA可以采用不同的传感器材料，并能在30-300 KeV的整个能量范围内都有理想表现。它拥有结构紧凑的设计和一个20 mm乘20 mm或192像素乘192像素的有效区域。 DECTRIS ARINA 适合于停留时间低于10 μs的广泛 4D STEM应用，包括从晶相和取向分布分析到层叠成像技术，以及使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。

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产品详情

DECTRIS ARINA®可伸缩电子计数探测器是专门为4D STEM应用开发的。它采用了一个全新的专有集成电路设计（ASIC），结合高达每秒12万帧的理想速度、高动态范围和无噪音的读出能力，从而使高质量的数据采集达到传统STEM探测的原生速度。得益于DECTRIS的混合像素技术，ARINA可以采用不同的传感器材料，并能在30-300 KeV的整个能量范围内都有理想表现。它拥有结构紧凑的设计和一个20 mm乘20 mm或192像素乘192像素的有效区域。 DECTRIS ARINA 适合于停留时间低于10 μs的广泛 4D STEM应用，包括从晶相和取向分布分析到层叠成像技术，以及使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。

技术规格

帧频(max)	120,000 Hz
计数率(max)	10^⁸ el/s/pixel
像素数	192 x 192
像素大小	100 x 100 µm²
传感器材料	硅 (Si) 或CdZnTe
能量范围	30 - 300 keV
探测器安装	可伸缩

产品应用

使用DECTRIS ARINA探测器在200keV获得的4D STEM实验结果。

左上: 虚拟明场STEM图像。

中间: 用差分相位对比法（DPC）进行局部电场的可视化。

右下: 综合质心（iCoM）重建展示了Sm和B 原子的局部原子电位。

叠加：SmB6沿<110>轴的原子结构，Sm为红色球体，B为绿色球体。

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