日本JEOL发射扫描电子显微镜SEM 3View

日本JEOL发射扫描电子显微镜SEM 3View

参考价:面议
型号: Serial Block-face SEM 3View
产地: 日本
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日本JEOL发射扫描电子显微镜Serial Block-face SEM 3View 

肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构,可以对精细结构进行三维分析。

                

产品特点:

· 肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与3View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构,可以对精细结构进行三维分析。

· 系统简介

· JSM-7100F、7800F和3View®2XP(Gatan产品)组合使用,能获得大量的大范围的切片图像。这样就能够进行数百微米区域的三维重构。通过三维重构能够观察二维图像上无法看到的细胞的深处结构。

    。外观:

          

 

 操作

       

 

· 自动、反复地切割样品和获取图像,能获得大量的切片图像。 对获得的切片图像,通过软件进行堆叠、调节、生成三维图像。

 

 应用数据

    

 

小鼠大脑 突触
细分数据
黄色区域:突触囊泡
绿化面积:突触后部增厚部分
红色区域:突触后部


深圳市蓝星宇电子科技有限公司为您提供 日本JEOL发射扫描电子显微镜SEM 3ViewSerial Block-face SEM 3View ,nullSerial Block-face SEM 3View 产地为日本,属于扫描透射电子显微镜,除了 日本JEOL发射扫描电子显微镜SEM 3View的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多扫描透射电子显微镜,蓝星宇客服电话400-860-5168转4527,售前、售后均可联系。

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