产品详情
日本JEOL低温冷冻离子切片仪IB-09060CIS
易受热损伤的样品,也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长,有效地抑制了热损伤。
· 产品规格
| IB-09060CIS |
离子加速电压 | 1 ~ 8kV |
倾斜角 | 最大±6o(0.1o/步) |
离子束直径 | 500μm(FWHM) |
研磨速率 | 5μm/min(加速电压:8kV、Si换算) |
使用气体 | 氩气 |
最大样品尺寸 | 2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度) |
样品冷却 | 样品架冷却温度 | -120℃ |
冷却到达时间 | 1小时 |
冷却保持时间 | 8小时 |
样品取出时间 | 30分钟 |
压力测试 | 潘宁规 |
主抽真空系统 | 涡轮分子泵 |
CCD相机 | 内置 |
尺寸 重量 | 主机 | 500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、70kg |
机械泵 | 150mm(W)×427mm(D)×230.5mm(H)、16kg |
液晶显示器 | 326mm(W)×173mm(D)×380mm(H)、3.7kg |
· 安装条件
| IB-09060CIS |
电源 | 单相100 ~ 120V±10%、50/60Hz、0.5 ~ 0.6kVA |
接地线 | 独立地线(100Ω以下) |
氩气 | 使用压力: 0.15±0.05MPa(1.0 ~ 2.0kg/cm2) 纯度99.9999%以上(氩气、气瓶及调压器由客户自备) 金属配管连接口:JISB0203 RC1/8 |
室温 | 20 ~ 25℃ |
湿度 | 60% 以下 |
· *产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更。
产品特点:
· 带有样品冷却系统,对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。
· ①通过液氮制冷,减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。
· ②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*
· ③冷却保持时间长,大大减少了热损伤。
· ④在装有液氮的情况下,也可以交换样品。
· *最大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。
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