产品详情
日本JEOL软X射线分析谱仪SXES
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。
产品规格:
· 产品规格
· 能量分辨率0.3eV(Al-L 光谱图73eV处测试)
· 获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区50-170eV
· 获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区70-210eV
· 分光谱仪艙安装位置:
· EPMA的WDS接口:NO.2接口(正面右侧)
· FE-SEM的WDS接口(正面左后侧)
· 分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm
· * 从接口包括CCD的距离
· 分光谱仪重量 25kg
· 适用机型
· EPMA : JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
· SEM : JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F
产品特点:
· 软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。
和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。
· ![](http://www.lxyee.net/Upload/images/%E5%9B%BE%201(15).png)
· 系统简介
· 最新开发设计的分光系统,不需移动衍射光栅或检测器(CCD)就能同时获取不同能量的谱图。而且由于能量分辨率很高,还可以采集状态分析分布图
· ![](http://www.lxyee.net/Upload/images/%E5%9B%BE%202(11).png)
· SXES、WDS、EDS的比较
· 各种分光方法中氮化钛样品的谱图
· 即使在WDS分析中氮化钛的谱峰也發生重叠,需要采取去卷积的数学方法处理。如下图所示,SXES具有很高的能量分辨率。
· ![](http://www.lxyee.net/Upload/images/%E5%9B%BE%203(9).png)
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· 比较表
![](http://www.lxyee.net/Upload/images/%E5%9B%BE%204(10).png)
锂离子二次电池(LIB)分析实例
· 能观察到LIB的充电量
· ![](http://www.lxyee.net/Upload/images/%E5%9B%BE%205(5).png)
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· 充满电后Li-K样品的谱图
· ![](http://www.lxyee.net/Upload/images/%E5%9B%BE%206(3).png)
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说明: 由于理论上的原因,氧化锂的检测很困难
· 轻元素的测试实例
· SXES测试碳素化合物的实例
· 可以测试金刚石、石墨、聚合物的不同。
· ![](http://www.lxyee.net/Upload/images/%E5%9B%BE%207(3).png)
· 各种氮素化合物的测试实例
· 氮素也可以根据波形分析化学结合状态。 硝酸盐和氮化物的波形完全不同,还能观察到易受电子束损伤的铵盐的独特波形。
· ![](http://www.lxyee.net/Upload/images/%E5%9B%BE%208(5).png)
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