产品详情
日本JEOL软X射线分析谱仪SXES
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。
产品规格：
· 产品规格
· 能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试）
· 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV
· 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV
· 分光谱仪艙安装位置：
· EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）
· FE-SEM的WDS接口（正面左后侧）
· 分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm
· * 从接口包括CCD的距离
· 分光谱仪重量 25kg
· 适用机型
· EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
· SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F
产品特点：
· 软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。
和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。
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· 系统简介
· 最新开发设计的分光系统，不需移动衍射光栅或检测器（CCD）就能同时获取不同能量的谱图。而且由于能量分辨率很高，还可以采集状态分析分布图
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· SXES、WDS、EDS的比较
· 各种分光方法中氮化钛样品的谱图
· 即使在WDS分析中氮化钛的谱峰也發生重叠，需要采取去卷积的数学方法处理。如下图所示，SXES具有很高的能量分辨率。
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· 比较表
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锂离子二次电池（LIB）分析实例
· 能观察到LIB的充电量
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· 充满电后Li-K样品的谱图
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说明: 由于理论上的原因，氧化锂的检测很困难
· 轻元素的测试实例
· SXES测试碳素化合物的实例
· 可以测试金刚石、石墨、聚合物的不同。
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· 各种氮素化合物的测试实例
· 氮素也可以根据波形分析化学结合状态。 硝酸盐和氮化物的波形完全不同，还能观察到易受电子束损伤的铵盐的独特波形。
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深圳市蓝星宇电子科技有限公司为您提供日本JEOL软X射线分析谱仪SXES，nullSXES产地为日本，属于透射电子显微镜（透射电镜、TEM），除了日本JEOL软X射线分析谱仪SXES的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多透射电子显微镜（透射电镜、TEM）,蓝星宇客服电话400-860-5168转4527，售前、售后均可联系。
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