德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer

德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer

参考价:¥80万 - 100万
型号: i-Wafer
产地: 德国
品牌: 凯斯安
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德国KSI-凯斯安i-Wafer型
全自动晶圆超声波缺陷检测系统

 

i-Wafer系列是一款高端仪器,操作人员可选择接收/拒绝标准,手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下,晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测


新型KSI i-Wafer晶圆缺陷检测系统的主要特点:
- 扫描速度高达2000mm/s
- 新型换能器
- 高质画面
- 同时使用1只、2只、4只换能器提高效能
- 能发现只有几微米的缺陷

 

198. i-wafe.jpg


深圳市蓝星宇电子科技有限公司为您提供凯斯安德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer ,凯斯安i-Wafer产地为德国,属于其他,除了德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer 的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他,蓝星宇客服电话400-860-5168转4527,售前、售后均可联系。

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