方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | GB/T19067.1-2003/ISO5436-1:2000/JJG 77-2006 |
三合一、非接触、快速灵活、功能强大的光机电一体化检测系统。干涉测量技术：快速灵活、超纳米精度、测量不受物镜倍率影响
三合一、非接触、快速灵活、功能强大的光机电一体化检测系统。干涉测量技术：快速灵活、超纳米精度、测量不受物镜倍率影响。
在先进制造业领域的应用；
在集成电路产业的应用；
在太阳能产业的应用；
在其它先进制造业领域的应用；
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