方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | |
检测项目 | |
参考标准 | GB/T19067.1-2003/ISO5436-1:2000/JJG 77-2006 |
三合一、非接触、快速灵活、功能强大的光机电一体化检测系统。干涉测量技术:快速灵活、超纳米精度、测量不受物镜倍率影响
三合一、非接触、快速灵活、功能强大的光机电一体化检测系统。干涉测量技术:快速灵活、超纳米精度、测量不受物镜倍率影响。
在先进制造业领域的应用;
在集成电路产业的应用;
在太阳能产业的应用;
在其它先进制造业领域的应用;
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询